专利名称: |
硬度测试计和硬度测试方法 |
摘要: |
本发明提供一种硬度测试计和硬度测试方法。硬度测试计包括测量部(CPU),用于随着压痕的形成来测量样品的材料特性值;获取部(CPU),用于获取与所述测量部所测量出的所述样品的材料特性值相关联的测量数据;以及判断部(CPU),用于基于所述获取部所获取到的所述测量数据来累积预定的材料特性值,并基于所累积的材料特性值来判断更换所述压头的时间。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
日本;JP |
申请人: |
株式会社三丰 |
发明人: |
辻井正治;森聪子;山田贵幸 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810079168.4 |
公开号: |
CN108362591A |
代理机构: |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
代理人: |
刘新宇 |
分类号: |
G01N3/42(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N3;G01N3/42 |
申请人地址: |
日本神奈川县 |
主权项: |
1.一种硬度测试计,用于对压头加载预定的测试力并通过将所述压头压入样品的表面来形成压痕,所述硬度测试计包括处理器和用于存储指令的存储器,在所述处理器执行所述存储器中所存储的指令的情况下,所述硬度测试计还包括以下结构:测量部,用于随着压痕的形成而测量所述样品的材料特性值;获取部,用于获取与所述测量部所测量出的所述样品的材料特性值相关联的测量数据;以及判断部,用于基于所述获取部所获取到的所述测量数据来累积预定的材料特性值,并基于所累积的材料特性值来判断更换所述压头的时间。 |
所属类别: |
发明专利 |