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原文传递镭射膜存放时间的检测方法

专利名称：	镭射膜存放时间的检测方法
摘要：	本申请提供一种镭射膜存放时间的检测方法，包括以下步骤：提供待测的镭射膜；测定镭射膜的实时电晕值；根据实时电晕值，得到镭射膜的存放时间；该镭射膜的实时电晕值与存放时间的关系式如下：σ＝‑0.0125t2‑0.2516t+σ0，其中，σ为实时电晕值，t为存放时间，σ0为初始电晕值。上述镭射膜存放时间的检测方法，通过测定的镭射膜的实时电晕值，就可得到准确的镭射膜的存放时间，方便人们判断该镭射膜是否还适用于后加工。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖南;43
申请人：	常德金德新材料科技股份有限公司
发明人：	余赞;田璐;钟文;张勇军;韦雪雪;罗臻;陈华;章杰
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810019649.6
公开号：	CN108254411A
代理机构：	广州华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人：	黄晓庆
分类号：	G01N27/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/00
申请人地址：	415000 湖南省常德市经济技术开发区德山街道办事处青山社区德山大道325号
主权项：	1.一种镭射膜存放时间的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：提供待测的镭射膜；测定所述镭射膜的实时电晕值；根据所述实时电晕值，得到所述镭射膜的存放时间；根据所述实时电晕值，得到所述镭射膜的存放时间所用的公式如下：σ＝‑0.0125t2‑0.2516t+σ0，其中，σ为实时电晕值，单位：dyn/cm，t为存放时间，单位：月，σ0为初始电晕值，单位：dyn/cm。
所属类别：	发明专利