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用于复合绝缘子缺陷检测的超声阵列装置与成像方法
| 专利名称： | 用于复合绝缘子缺陷检测的超声阵列装置与成像方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于复合绝缘子缺陷检测的超声阵列装置，它包括盒体、耦合水囊、水嘴开关接头和超声阵列探头，所述盒体的盒口与耦合水囊的边缘固定连接，耦合水囊将盒体的盒口防水密封，盒体的底面开设有超声探头安装口，所述超声阵列探头安装在超声探头安装口上，超声阵列探头的壳体与超声探头安装口之间密封连接，超声探头的探测端面向耦合水囊，盒体上设置与耦合水囊连通的水嘴开关接头，处理器的通信端连接超声阵列探头的通信端。本发明可用于复合绝缘子缺陷检测，实现利用超声阵列探头对复合绝缘子缺陷的准确检测。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 国家电网公司;国网湖北省电力公司检修公司;中国科学院电工研究所 |
| 发明人： | 徐天勇;董晓虎;李荣超;雷成华;夏正武;刘国强;夏慧 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810009798.4 |
| 公开号： | CN108254445A |
| 代理机构： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 |
| 代理人： | 潘杰;李满 |
| 分类号： | G01N29/24(2006.01)I;G01N29/06(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N29;G01N29/24;G01N29/06 |
| 申请人地址： | 100031 北京市西城区西长安街86号 |
| 主权项： | 1.一种用于复合绝缘子缺陷检测的超声阵列装置，它包括盒体(1)、耦合水囊(3)、水嘴开关接头(4)和超声阵列探头(5)，所述盒体(1)的盒口(1.1)与耦合水囊(3)的边缘固定连接，耦合水囊(3)将盒体(1)的盒口(1.1)防水密封，盒体(1)的底面开设有超声探头安装口(1.2)，所述超声阵列探头(5)安装在超声探头安装口(1.2)上，超声阵列探头(5)的壳体与超声探头安装口(1.2)之间密封连接，超声探头(5)的探测端面向耦合水囊(3)，盒体(1)上设置与耦合水囊(3)连通的水嘴开关接头(4)，其特征在于：它还包括处理器(8)，所述处理器(8)的通信端连接超声阵列探头(5)的通信端，所述超声阵列探头(5)中的各个阵列组分别通过耦合水囊(3)向复合绝缘子(7)发送超声波信号，并在复合绝缘子(7)中产生对应的多个超声回波信号，该超声回波信号通过耦合水囊(3)后被超声阵列探头(5)接收，超声阵列探头(5)将接收的超声回波信号传输给处理器(8)；所述处理器(8)根据依次接收的多个超声回波信号进行多次局部超声相控阵成像，并对多次局部超声相控阵成像的图像进行空间叠加，从而合成复合绝缘子缺陷超声检测的图像。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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