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一种基于重定位的光切片荧光显微成像方法和装置
| 专利名称： | 一种基于重定位的光切片荧光显微成像方法和装置 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于重定位的光切片荧光显微成像方法和装置，属于光学成像技术领域，包括沿光路依次布置的激光器、柱面镜和承载有荧光样品的样品台，以及收集荧光样品发出荧光的检测系统；检测系统包括第一检测器、分束器、第二检测器和第三检测器，还包括与检测系统和样品台连接的处理器，控制样品台以固定的步长沿Z轴移动，并对荧光图像I1和荧光图像I2进行比较，得到图中各个部分荧光在Z轴的位置信息，根据位置信息，对荧光图像I0中的荧光信息进行重新定位和三维重构，得到荧光样品的三维成像结果。可实现在不减小成像视场范围，不增加对样品的光漂白，不降低成像速度的情况下提高成像的轴向分辨率。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 浙江大学 |
| 发明人： | 匡翠方;王晓娜;黎文柔;张乘风;刘旭;李海峰 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810594825.9 |
| 公开号： | CN108956562A |
| 代理机构： | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 |
| 代理人： | 胡红娟 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64 |
| 申请人地址： | 310013 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号 |
| 主权项： | 1.一种基于重定位的光切片荧光显微成像方法，激光光束聚焦为光切片后投射到荧光样品上激发荧光，收集荧光得到对应的荧光图像；其特征在于：收集荧光样品沿着Z轴向下发出的第一荧光，得到荧光图像I0；对荧光样品沿着Z轴向上发出的第二荧光进行分束并进行收集，得到荧光图像I1和荧光图像I2；以固定的步长沿Z轴移动所述荧光样品，采集荧光并获得荧光样品在各Z轴位置处的荧光图像I0、荧光图像I1和荧光图像I2，将荧光图像I1和荧光图像I2进行比较，得到图中各个部分荧光在Z轴的位置信息，根据所述的位置信息，对各Z轴位置处的荧光图像I0中荧光信息进行重新定位，确定荧光信息在Z轴上的位置；对重定位后的所有荧光图像I0进行三维重构，得到荧光样品的三维成像结果。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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