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原文传递一种水渣XRF定量分析的方法

专利名称：	一种水渣XRF定量分析的方法
摘要：	本发明公开了一种水渣XRF定量分析的方法。首先采用X荧光光谱法检测系列元素含量的标准水渣样品来建立元素含量与元素X荧光强度的标准曲线，然后制备不同含水率的水渣样品并采用X荧光光谱法检测各样品中的元素特征X荧光强度与背景噪声强度，同时利用水分分析仪检测计算各样品的含水率，从而获得校准样品中含水率与元素X荧光强度的关系和含水率与背景噪声强度的关系，建立基于不同含水率下的背景强度与元素特征X荧光强度关系的含水率修正模型；结合校准曲线和含水率修正模型，最终获得水渣XRF定量分析模型。本发明定量分析方法克服了X荧光光谱法分析水渣元素含量时含水率的影响及样品含水率不易获得的问题。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	南京航空航天大学
发明人：	单卿;饶盛;张新磊;邵金发;刘勇;贾文宝
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810937789.1
公开号：	CN108982564A
代理机构：	北京恒创益佳知识产权代理事务所(普通合伙) 11556
代理人：	付金豹
分类号：	G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/223
申请人地址：	211106 江苏省南京市秦淮区御道街29号
主权项：	1.一种水渣XRF定量分析的方法，其特征在于，首先采用X荧光光谱法检测系列元素含量的标准水渣样品来建立元素含量与元素X荧光强度的标准曲线；然后制备不同含水率的水渣样品，并采用X荧光光谱法检测各样品中的元素特征X荧光强度与背景噪声强度，同时利用水分分析仪检测计算各样品的含水率，从而获得校准样品中含水率与元素X荧光强度的关系、以及含水率与背景噪声强度的关系；建立基于不同含水率下的背景噪声强度与元素特征X荧光强度关系的含水率修正模型；结合标准曲线和含水率修正模型，最终获得水渣XRF定量分析模型。
所属类别：	发明专利