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原文传递 一种表面微粒分析仪及其测试方法
专利名称: 一种表面微粒分析仪及其测试方法
摘要: 一种表面微粒分析仪及其测试方法,包括过滤器、气泵、激光传感器、电控单元以及可调节密封的取样装置,其中取样装置与气泵组成闭合的气路循环;取样装置的进气端管路上连通有过滤器,取样装置的出气端管路上连通有激光传感器;电控单元分别与激光传感器、电源及气泵连接,可实现对待检测样品的表面微粒进行固定式的密封隔离采样,有效排除了人为操作误差及环境干扰,且结构简单,易于操作,并且检测数据可进行初步均值分析、存储、打印及导出,便于后期处理。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 天津;12
申请人: 天津天河分析仪器有限公司
发明人: 胡子平;高俊涛;吕寅;王晓庆
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810211873.5
公开号: CN108279205A
代理机构: 天津盛理知识产权代理有限公司 12209
代理人: 董一宁
分类号: G01N15/14(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/14
申请人地址: 300384 天津市南开区华苑产业区梓苑路13号3-D-801
主权项: 1.一种表面微粒分析仪,包括分析仪壳体,其特征在于:还包括过滤器、气泵、激光传感器、电控单元以及可调节密封的取样装置,其中取样装置的进气端管路上连通有过滤器,取样装置的出气端管路上连通有激光传感器,且过滤器及激光传感器均与气泵连通,由气泵、过滤器、取样装置及激光传感器组成闭合的气路循环;所述电控单元分别与激光传感器、电源及气泵连接。
所属类别: 发明专利
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