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基于变温下热寿命损耗的母线槽寿命预测方法
| 专利名称： | 基于变温下热寿命损耗的母线槽寿命预测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于变温下热寿命损耗的母线槽寿命预测方法，其包括以下步骤：S1、以母线槽绝缘材料的断裂伸长率作为试验参数进行恒温热老化试验，得到恒温下母线槽绝缘材料的试验寿命及对应的温度值；S2、根据最小二乘法拟合恒温下母线槽的试验寿命及对应的温度值，得到母线槽绝缘材料的寿命预测公式；S3、根据母线槽绝缘材料的寿命预测公式得到一个温度周期内母线槽绝缘材料正常使用下的总寿命损耗；S4、根据一个温度周期内母线槽绝缘材料的总寿命损耗预测母线槽寿命。可以准确的预测母线槽绝缘材料在不同温度环境下的剩余寿命，有效消除因母线槽绝缘材料老化而存在的安全隐患，提高使用安全性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 西华大学 |
| 发明人： | 谢维成;唐圣也;石林玉;马麟 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810074810.X |
| 公开号： | CN108287174A |
| 代理机构： | 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 |
| 代理人： | 李林合;李蕊 |
| 分类号： | G01N25/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25;G01N25/00 |
| 申请人地址： | 610039 四川省成都市金牛区土桥金周路999号 |
| 主权项： | 1.一种基于变温下热寿命损耗的母线槽寿命预测方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、以母线槽绝缘材料的断裂伸长率作为试验参数进行恒温热老化试验，得到恒温下母线槽绝缘材料的试验寿命及对应的温度值；S2、根据最小二乘法拟合恒温下母线槽的试验寿命及对应的温度值，得到母线槽绝缘材料的寿命预测公式；S3、根据母线槽绝缘材料的寿命预测公式得到一个温度周期内母线槽绝缘材料正常使用下的总寿命损耗；S4、根据一个温度周期内母线槽绝缘材料的总寿命损耗预测母线槽寿命。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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