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原文传递 一种用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法
专利名称: 一种用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法
摘要: 本发明公开了一种用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法,包括如下步骤:采用溶剂擦拭待测陶瓷涂覆隔膜表面,直至露出基膜得到隔膜a;将隔膜a分为对照组和至少一个实验组,再将实验组升温至120‑140℃,保温0.8‑1.2h,得到隔膜b;将隔膜b进行称重,计算其面积,计算基膜基重;将隔膜b制成待测样品,喷金,置于扫描电子显微镜样品仓中,拍摄基膜形貌以判断待测陶瓷涂覆隔膜的基膜在不同温度下的状态。本发明解决了陶瓷涂覆隔膜的基膜在不同温度下状态无法评测的问题,通过各种评测方法可以判断基膜状态是否正常,是判断陶瓷涂覆隔膜闭孔温度的重要依据,方法简便,对基膜无破坏性。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 安徽;34
申请人: 合肥国轩高科动力能源有限公司
发明人: 方婷婷;王启岁;麻姗姗;彭文
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810311204.5
公开号: CN108627529A
代理机构: 合肥市长远专利代理事务所(普通合伙) 34119
代理人: 段晓微
分类号: G01N23/22(2018.01)I;G01N23/2202(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/22;G01N23/2202
申请人地址: 230000 安徽省合肥市新站区岱河路599号
主权项: 1.一种用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、采用溶剂擦拭待测陶瓷涂覆隔膜表面,直至露出基膜得到隔膜a;S2、将隔膜a分为对照组和至少一个实验组,再将实验组升温至120‑140℃,保温0.8‑1.2h,得到隔膜b;S3、将隔膜b进行称重,计算其面积,计算基膜基重;S4、将隔膜b制成待测样品,喷金,置于扫描电子显微镜样品仓中,拍摄基膜形貌以判断待测陶瓷涂覆隔膜的基膜在不同温度下的状态。
所属类别: 发明专利
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