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原文传递 圆柱结构横向变形测量装置
专利名称: 圆柱结构横向变形测量装置
摘要: 本实用新型公开了一种圆柱结构横向变形测量装置,包括呈筒状结构的套环,该套环设有开口,套环在开口的两侧各设有一个固定支座,所述固定支座上安装有开度测量仪,所述开度测量仪用于测量两个固定支座之间的距离变化值。采用以上方案,可以有效反应结构在圆周方向的整体横向形变,而非采用应变片所测得的局部形变。测量时,结构的横向变形通过本装置套环开口的开合度来进行反应,并经过测量仪实时测量计算,快速得出测量结果,提高测量效率和精度,提高测量可靠性的同时,降低测量成本,优化测试经济性。
专利类型: 实用新型
国家地区组织代码: 四川;51
申请人: 中国工程物理研究院电子工程研究所
发明人: 杨荷;韩萌萌;杨波;刘波;张中才;焦敏;安晓伟
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201820513343.1
公开号: CN207946294U
代理机构: 重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙) 50216
代理人: 龙玉洪
分类号: G01N3/06(2006.01)I;G01B7/16(2006.01)I;G;G01;G01N;G01B;G01N3;G01B7;G01N3/06;G01B7/16
申请人地址: 621999 四川省绵阳市游仙区919信箱521分箱
主权项: 1.一种圆柱结构横向变形测量装置,其特征在于:包括呈筒状结构的套环(1),该套环(1)设有开口(10),套环(1)在开口(10)的两侧各设有一个固定支座(2),所述固定支座(2)上安装有开度测量仪(3),所述开度测量仪(3)用于测量两个固定支座(2)之间的距离变化值。
所属类别: 实用新型
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