专利名称: |
一种控温控压样品台及温压控制系统 |
摘要: |
本发明提供一种控温控压样品台及温压控制系统,温压控制系统中的控温控压样品台包括压力罩、导热体和显微镜载物台,导热体顶部设有样品槽,样品槽的底部从上至下分布着温度传感器和加热电阻,导热体内设有传送冷质的管线,管线绕样品槽设置,压力罩扣设于样品槽之上以为样品槽提供高压。温压控制系统包括冷源、连接压力罩的高压弹簧软管和控制器,管线的两端分别连接冷源和一冷质泵,控制器连接温度传感器、冷质泵和加热电阻;高压弹簧软管的一端分为四条支路,一条连接真空泵,用于抽走压力罩内的气体,一条连接高压气源,用于向压力罩注入气体,一条连接截止阀,一条连接背压阀,用于使压力罩的气压小于背压阀的设定值。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
湖北;42 |
申请人: |
中国地质大学(武汉) |
发明人: |
彭力;宁伏;李维;王冬冬;张凌;欧文佳 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810345635.3 |
公开号: |
CN108646038A |
代理机构: |
武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238 |
代理人: |
龚春来 |
分类号: |
G01N35/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N35;G01N35/00 |
申请人地址: |
430000 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号 |
主权项: |
1.一种控温控压样品台,其特征在于:包括从上至下顺序设置的压力罩、导热体和显微镜载物台,所述导热体顶部中心处设有容纳样品的样品槽,所述样品槽的底部从上至下分布着用于检测所述样品槽温度的温度传感器和用于为所述样品槽加热的加热电阻,所述导热体内设有传送冷质的管线,所述管线绕所述样品槽设置以为所述样品槽降温,所述压力罩扣设于所述样品槽之上以为所述样品槽提供高压,且所述压力罩通过法兰与所述导热体连接,所述显微镜载物台用于支撑所述导热体。 |
所属类别: |
发明专利 |