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基于光源调制技术的近中红外激光波段透过率测量系统
| 专利名称： | 基于光源调制技术的近中红外激光波段透过率测量系统 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于光源调制技术的近中红外激光波段透过率测量系统，借助二维旋转转台和控制系统进行测量。工作时，通过对旋转平台的全自动控制，可使该测量系统对准太阳，太阳平行光经光学斩波和滤波后形成一定频率和带宽的信号到达探测器，探测器输出的峰值信号是与光强成正比的电压信号，该电压信号即红外波段太阳光强变化信号，经峰值保持和采样后送入控制系统进行存储和显示。通过滤光片旋转，可实现1.0~4.5μm范围内7个波段信号测量，再根据“基于太阳宽谱直接辐射提取激光谱线透过率方法”来得到近中红外多个激光波段透过率。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 安徽;34 |
| 申请人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 发明人： | 陈新民;李建玉;徐文清;黄宏华;朱文越;魏合理;詹杰;饶瑞中 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810138068.4 |
| 公开号： | CN108489898A |
| 代理机构： | 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 |
| 代理人： | 余成俊 |
| 分类号： | G01N21/01(2006.01)I;G01N21/61(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/01;G01N21/61 |
| 申请人地址： | 230031 安徽省合肥市蜀山区蜀山湖路350号 |
| 主权项： | 1.基于光源调制技术的近中红外激光波段透过率测量系统,其特征在于：包括有测量光筒、跟踪光筒、探头筒身，所述探头筒身包括筒身前盖板、筒身后盖板、筒身和筒身底板，筒身前盖板垂直连接有测量光筒和位于测量光筒正下方的跟踪光筒，测量光筒、跟踪光筒中心轴线相互平行，测量光筒、跟踪光筒后端分别与探头筒身内连通，其中测量光筒前端为筒口，测量光筒内从前端筒口向后依次共中心轴安装有四个光栏，相邻光栏之间共中心轴设有光圈，测量光筒后端至筒身前盖板依次有滤光片、斩波器和近中红外透镜；近中红外透镜设在测量光筒与探头筒身连通处内并与测量光筒共中心轴，探头筒身内位于近中红外透镜后方设有探测器，所述探测器位于测量光筒中心轴线的延伸线上，探测器的探测面与测量光筒中心轴线垂直且朝向近中红外透镜，探头筒身内转动安装有由步进电机驱动的滤光转盘，滤光转盘位于近中红外透镜与探测器之间，滤光转盘中心轴线与测量光筒中心轴线平行；所述跟踪光筒前端封闭且设有中心通孔，跟踪光筒与探头筒身连通处内设有与跟踪光筒共中心轴的四象限探测器，四象限探测器的探测面朝向跟踪光筒前端，所述探头筒身内设有峰值检测采集板，所述四象限探测器、探测器分别与峰值检测采集板输入端连接。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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