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利用光谱仪测定铝丝/铝基合金中La元素的方法
| 专利名称： | 利用光谱仪测定铝丝/铝基合金中La元素的方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种利用光谱仪测定铝丝/铝基合金中La元素的方法，步骤为：①设定待测样品的分析条件：光谱仪采用max型x射线荧光光谱仪；②标准样品的选择：选择多组铝基合金标准样品及含量％范围；③绘制工作曲线图；④制备待测样品及标准样品；⑤计算铝基合金中La元素的含量。本发明的有益效果是：通过系列标准样品进行绘制工作曲线，不需要对样品进行破坏,准确而快速的测定铝丝/铝基合金/高纯铝合金宽范围中La元素含量；分析结果准确可靠，满足企业对检测化验数据快速化、准确的需求；操作简单、重现性好；节省了周期及化学药品的消耗。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 天津;12 |
| 申请人： | 天津钢管集团股份有限公司 |
| 发明人： | 韩春梅;周冠男;于晟;任刚;田琨 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810198604.X |
| 公开号： | CN108490013A |
| 代理机构： | 天津才智专利商标代理有限公司 12108 |
| 代理人： | 吕志英 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N1;G01N23/223;G01N1/28 |
| 申请人地址： | 300301 天津市东丽区津塘公路396号 |
| 主权项： | 1.一种利用光谱仪测定铝丝/铝基合金中La元素的方法，其特征是：该方法步骤如下：①设定待测样品的分析条件：光谱仪采用max型x射线荧光光谱仪，功率4Kw，电压60Kv，电流66mA；②标准样品的选择：选择多组铝基合金标准样品及含量％范围，其中铝元素含量在90％以上；③对步骤②的多组样品采用步骤①的设备绘制工作曲线图：荧光强度为横坐标，La含量为纵坐标；④待测样品及标准样品制备：待测样品经过压扁，使其厚度大于1mm，再折成长大于15mm小于27mm，宽大于15mm小于27mm的方形样品，然后再将待测样品于平磨机为60目砂纸上研磨，研磨后样品纹理一致；标准样品不需要压扁、折叠，于平磨机为60目砂纸研磨，研磨后样品纹理一致；⑤对待测样品进行测定及比对：依次用X荧光仪测定荧光强度，重复10次，根据荧光强度值比对坐标上的标准La元素的含量值，计算出10次测量的平均值为铝基合金中La元素的含量。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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