专利名称: |
一种含氧石墨烯还原程度的判定方法 |
摘要: |
本发明公开了一种含氧石墨烯还原程度的判定方法,包括:(1)利用X射线光电子能谱对待测样品进行测量,扫描的能量范围为280eV至295eV,得到待测样品C 1s的XPS能谱;(2)将得到的XPS能谱进行分峰拟合,调整半高宽、面积、峰形;(3)通过步骤(2)得到的结果,根据含氧官能团总含量与C‑C键含量之比判断含氧石墨烯的还原程度。本发明可实现碳元素的化学结构分析,可通过含氧官能团总含量和C‑C键含量作比、含氧官能团结合能位置比较,实现不同样品还原程度的判定。发明具有准确、快速、无损伤的优点。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
浙江;33 |
申请人: |
中国科学院宁波材料技术与工程研究所 |
发明人: |
苗利静;江柯敏;李勇;卢焕明;李明;沈璐;朱丽辉;韩莹莹 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810213828.3 |
公开号: |
CN108490015A |
代理机构: |
杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 |
代理人: |
刘诚午 |
分类号: |
G01N23/2273(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/2273 |
申请人地址: |
315201 浙江省宁波市镇海区庄市大道519号 |
主权项: |
1.一种含氧石墨烯还原程度的判定方法,其特征在于,包括:(1)利用X射线光电子能谱对待测样品进行测量,扫描的能量范围为280eV至295eV,得到待测样品C 1s的XPS能谱;(2)将得到的XPS能谱进行分峰拟合,调整半高宽、面积、峰形;(3)通过步骤(2)得到的结果,根据含氧官能团总含量与C‑C键含量之比判断含氧石墨烯的还原程度。 |
所属类别: |
发明专利 |