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一种含氧石墨烯还原程度的判定方法
| 专利名称： | 一种含氧石墨烯还原程度的判定方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种含氧石墨烯还原程度的判定方法，包括：(1)利用X射线光电子能谱对待测样品进行测量，扫描的能量范围为280eV至295eV，得到待测样品C 1s的XPS能谱；(2)将得到的XPS能谱进行分峰拟合，调整半高宽、面积、峰形；(3)通过步骤(2)得到的结果，根据含氧官能团总含量与C‑C键含量之比判断含氧石墨烯的还原程度。本发明可实现碳元素的化学结构分析，可通过含氧官能团总含量和C‑C键含量作比、含氧官能团结合能位置比较，实现不同样品还原程度的判定。发明具有准确、快速、无损伤的优点。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 |
| 发明人： | 苗利静;江柯敏;李勇;卢焕明;李明;沈璐;朱丽辉;韩莹莹 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810213828.3 |
| 公开号： | CN108490015A |
| 代理机构： | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 |
| 代理人： | 刘诚午 |
| 分类号： | G01N23/2273(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/2273 |
| 申请人地址： | 315201 浙江省宁波市镇海区庄市大道519号 |
| 主权项： | 1.一种含氧石墨烯还原程度的判定方法，其特征在于，包括：(1)利用X射线光电子能谱对待测样品进行测量，扫描的能量范围为280eV至295eV，得到待测样品C 1s的XPS能谱；(2)将得到的XPS能谱进行分峰拟合，调整半高宽、面积、峰形；(3)通过步骤(2)得到的结果，根据含氧官能团总含量与C‑C键含量之比判断含氧石墨烯的还原程度。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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