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样品分析组件、样品分析装置及样品分析方法
| 专利名称： | 样品分析组件、样品分析装置及样品分析方法 |
| 摘要： | 本申请公开一种样品分析组件、样品分析装置及样品分析方法。所述样品分析组件包括：载台，设有用于放置样品的承载区；检测机构，设于承载区的上方，用于获取样品的膜内异物的位置；扎针机构，设置于载台上，所述扎针机构包括针，所述针用于扎出样品的膜内异物。基于此，本申请能够有利于对膜内异物进行成分分析。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖北;42 |
| 申请人： | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 发明人： | 易国霞 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810446408.X |
| 公开号： | CN108645793A |
| 代理机构： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 |
| 代理人： | 钟子敏 |
| 分类号： | G01N21/01(2006.01)I;G01N21/94(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/01;G01N21/94 |
| 申请人地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道666号光谷生物创新园C5栋305室 |
| 主权项： | 1.一种样品处理组件，其特征在于，所述样品处理组件包括：载台，所述载台上设有用于放置样品的承载区；检测机构，设置于所述承载区的上方；扎针机构，设置于所述载台上，所述扎针机构包括朝向所述承载区延伸的针。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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