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原文传递高温变形和温度测量系统和方法

专利名称：	高温变形和温度测量系统和方法
摘要：	本公开涉及一种高温变形和温度测量系统和方法，该系统包括：控制光源以第一频率进行闪烁发光；并控制图像获取装置在光源的每个闪烁周期内，获取光源发光时被测物体的表面的图像进而确定被测物体的表面的应变场，以此保证图像获取装置清晰的拍摄到被测物体表面形貌，有利于精准确定被测物体表面的应变场；并控制图像获取装置和控制单点温度测量装置分别在光源的每个闪烁周期内，获取光源不发光时被测物体表面的图像和单点温度以确定被测物体的表面的温度场。有效避免了被测物体表面反射光对辐射测温的干扰，有利于精准确定被测物体表面的温度场。由此可实现在用于温度计算的图像采集时辐射光与反射光的解耦，具有更广泛的适应性和更高的精度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	清华大学
发明人：	冯雪;岳孟坤;唐云龙;朱相宇;方旭飞
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810812011.8
公开号：	CN109030546A
代理机构：	北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人：	刘新宇
分类号：	G01N25/00(2006.01)I;G01B11/16(2006.01)I;G;G01;G01N;G01B;G01N25;G01B11;G01N25/00;G01B11/16
申请人地址：	100084 北京市海淀区清华园1号
主权项：	1.一种变形和温度测量系统，其特征在于，包括：图像获取装置，用于获取被测物体表面的图像；加热装置，用于对所述被测物体进行加热；光源，用于照射所述被测物体的表面；单点温度测量装置，用于测量被测物体的表面的单点温度；控制装置，用于控制所述光源以第一频率进行闪烁发光，并控制所述图像获取装置在光源的每个闪烁周期内，获取光源发光时所述表面的图像和光源不发光时所述表面的图像，并控制所述单点温度测量装置在光源的每个闪烁周期内，获取光源不发光时所述表面的单点温度；所述控制装置还用于，根据光源发光时所述表面的图像确定所述被测物体的表面的应变场，根据光源不发光时所述表面的图像以及光源不发光时所述表面的单点温度，确定所述被测物体的表面的温度场。
所属类别：	发明专利