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基于调制弱值放大技术的相位分布测量装置及方法
| 专利名称： | 基于调制弱值放大技术的相位分布测量装置及方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于调制弱值放大技术的相位分布测量装置及方法，该相位分布测量装置设置有系统前选择态单元、第一相位补偿单元、系统后选择态单元，本发明主要基于标准量子弱值放大技术，以光偏振作为量子系统自由度，采用相位补偿策略，通过设置合适的第一相位补偿单元和系统后选择态单元，可对一个波长以内的任意相位实现高精度测量，是一种新型的、无损的直接光学传感测量技术，适用于生物医学、分析化学、材料学等多个技术领域的相位高精度测量及成像分析，具有重要应用价值。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 四川大学 |
| 发明人： | 张志友;李兆雪;邱晓东;谢林果;罗兰;刘雄 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810346175.6 |
| 公开号： | CN108645796A |
| 代理机构： | 成都科海专利事务有限责任公司 51202 |
| 代理人： | 郭萍 |
| 分类号： | G01N21/21(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/21 |
| 申请人地址： | 610065 四川省成都市武侯区一环路南一段24号 |
| 主权项： | 1.一种基于调制弱值放大技术的相位分布测量装置，其特征在于包括发光单元、系统前选择态单元、第一相位补偿单元、偏振分束单元、样品耦合单元、偏振合束单元、系统后选择态单元和光信息采集单元；所述样品耦合单元包括载物台以及装载在载物台上的待测样品；所述相位分布测量装置中的光路走向为：由发光单元发出的光束经系统前选择态单元制备为线偏振光，线偏振光经第一相位补偿单元进行相位补偿后再经偏振分束单元分为两束偏振态相互正交的偏振光，两束偏振光一束进入样品，另一束穿过载物台作为参考光束，从样品透射的偏振光束与参考光束经偏振合束单元合并为一束椭圆偏振光，再经系统后选择态单元后由光信息采集单元接收；或者，由发光单元发出的光束经系统前选择态单元制备为线偏振光，线偏振光经第一相位补偿单元进行相位补偿后再经偏振分束单元分为两束偏振态相互正交的偏振光，两束偏振光进入样品，从样品透射的两偏振光经偏振合束单元合并为一束椭圆偏振光，再经系统后选择态单元后由光信息采集单元接收。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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