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一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法
| 专利名称： | 一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法，包括以下步骤，步骤1，制备测试样品：将无缺陷的TFT液晶基板玻璃制成0.6mm～2.0mm之间颗粒，洗涤、干燥；去除铁杂质，得到测试样品；步骤2，将测试样品均匀放入铂金舟器皿中，将铂金舟放入梯度炉内保温；步骤3，从梯度炉中取出保温后的测试样品，冷却后使测试样品剥离铂金舟，在显微镜下开始观测测试样品，标注析晶开始位置与析晶结束位置；步骤4，根据梯度炉软件提供的温度拟合公式，计算出TFT液晶基板玻璃的析晶上限温度。本发明采用梯度炉自带的温度拟合公式，提高了测量的准确性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 陕西;61 |
| 申请人： | 彩虹显示器件股份有限公司 |
| 发明人： | 郭萍莉;曾召;孔令歆;兰静 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810848060.7 |
| 公开号： | CN108663393A |
| 代理机构： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 |
| 代理人： | 徐文权 |
| 分类号： | G01N25/12(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25;G01N25/12 |
| 申请人地址： | 712021 陕西省咸阳市秦都区玉泉西路西延段 |
| 主权项： | 1.一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法，其特征在于，包括以下步骤，步骤1，制备测试样品：将无缺陷的TFT液晶基板玻璃制成0.6mm～2.0mm之间颗粒，洗涤、干燥；去除铁杂质，得到测试样品；步骤2，将制得的测试样品均匀放入铂金舟器皿中，再将铂金舟放入梯度炉内保温；步骤3，从梯度炉中取出保温后的测试样品，冷却后使测试样品剥离铂金舟，在显微镜下开始观测测试样品，标注析晶开始位置与析晶结束位置；步骤4，采用的梯度炉软件中嵌有反映温度与梯度炉位置关系的温度拟合公式，根据梯度炉软件提供的温度拟合公式，计算出TFT液晶基板玻璃的析晶上限温度。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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