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一种结构表面湿润状态转变压力的判断方法
| 专利名称： | 一种结构表面湿润状态转变压力的判断方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种结构表面湿润状态转变压力的判断方法，基于随着固液湿润状态的改变，光入射微通道外部上表面后通过不同的介质，光程差会发生变化，从而导致干涉条纹发生变化的原理，分析干涉条纹变化，最终得到特定结构表面Cassie状态与Wenzel状态的转变压力。本发明的判断方法采用光干涉试验台即可实现，相比于传统的Conforcol Microscopy设备，光干涉试验台价格适中，精度较高，能够满足试验中状态转化的测量，容易推广应用。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京理工大学 |
| 发明人： | 魏超;赵欣;苑士华;胡纪滨 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810199768.4 |
| 公开号： | CN108680464A |
| 代理机构： | 北京理工大学专利中心 11120 |
| 代理人： | 郭德忠;李爱英 |
| 分类号： | G01N13/00(2006.01)I;G01N21/25(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N13;G01N21;G01N13/00;G01N21/25 |
| 申请人地址： | 100081 北京市海淀区中关村南大街5号 |
| 主权项： | 1.一种结构表面湿润状态转变压力的判断方法，应用于内部下表面具有微结构的微通道，其特征在于，包括以下步骤：根据入射激光的波长λ、待注入的流体折射率n以及微通道的尺寸，分别获取微通道三种理论工作模式对应的入射激光和反射激光在微通道内部上表面形成的干涉条纹的条纹级数k0、k1以及k2；所述理论工作模式依次包括：微通道中未通入流体、微通道中的流体处于Wenzel状态以及处于Cassie状态；分别将条纹级数k1和k2与条纹级数k0作差，获取对应的第一差值△k1和第二差值△k2；分别将第一差值△k1和第二差值△k2对2求模，获取对应的第一模值m1和第二模值m2；将入射激光从所述微通道外部上表面入射微通道内部下表面，使得入射激光在微通道内部下表面形成反射激光；向微通道中注入流体并等间隔提高微通道中流体的压力，根据所述第一模值m1和第二模值m2的差值△m大小，获取所述流体从Cassie状态转变至Wenzel状态的转变压力，具体为，若所述差值△m大于第一设定阈值T1，则所述干涉条纹的明暗条纹位置不再发生变化时对应的最小压力为所述转变压力；若所述差值△m小于第一设定阈值T1大于第二设定阈值T2，则所述干涉条纹的明暗条纹位置、且干涉条纹的光强图谱的峰值位置不再发生变化时对应的最小压力为所述转变压力。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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