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原文传递 一种基于机器视觉技术的光学元件缺陷检测方法
专利名称: 一种基于机器视觉技术的光学元件缺陷检测方法
摘要: 本发明涉及光学元件检测领域,提供一种基于机器视觉技术的光学元件缺陷检测方法,包括:步骤1,设置缺陷检测装置;步骤2,开启照明光源对待测光学元件进行检测,采用照明光源暗区作为拍摄背景亮区作为光源照明的方法,逐步移动或切换光源暗区直至所有暗区移动或切换完毕,获取经过待测光学元件的多张光线图像;步骤3,将获取的多张光线图像转分别换成图像信号,并传送给工业PC机,工业PC机对多个图像信息进行图像合成处理,得到新合成图像;步骤4,对新合成图像进行瑕疵特征提取,并根据检测标准对缺陷检测结果进行判断。本发明利用光源灰度值的交替变化实现高质量的缺陷检测,同时能稳定的检测轻微缺陷,替代人工检测。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 辽宁;21
申请人: 大连鉴影光学科技有限公司
发明人: 郭右利;王芳
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810667885.9
公开号: CN109030495A
代理机构: 大连大工智讯专利代理事务所(特殊普通合伙) 21244
代理人: 崔雪
分类号: G01N21/88(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/88
申请人地址: 116023 辽宁省大连市沙河口区翰林园23号2单元7层2号
主权项: 1.一种基于机器视觉技术的光学元件缺陷检测方法,其特征在于,包括:步骤1,设置缺陷检测装置,其中,所述缺陷检测装置包括:照明光源、图像采集装置和工业PC机,图像采集装置通过被测光学元件观测到透射或反射的照明光源的像,其中,照明光源为包含亮区和暗区、并可切换亮暗或可移动的组合光源;步骤2,开启照明光源对待测光学元件进行检测,采用照明光源暗区作为拍摄背景亮区作为光源照明的方法,逐步移动或切换光源暗区直至所有暗区移动或切换完毕,获取经过待测光学元件的多张光线图像;步骤3,将获取的多张光线图像转分别换成图像信号,并传送给工业PC机,工业PC机对多个图像信息进行图像合成处理,得到新合成图像;其中,合成处理的方法为:取所有图像信息中对应图像位置灰度的最低值作为新合成图像对应位置的基准灰度值,并对基准灰度值进行比例调整,得到新合成图像;步骤4,对新合成图像进行瑕疵特征提取,并根据检测标准对缺陷检测结果进行判断。
所属类别: 发明专利
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