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基于中波红外反射率基准的光学通道在轨定标验证方法
| 专利名称： | 基于中波红外反射率基准的光学通道在轨定标验证方法 |
| 摘要： | 本发明提供了基于中波红外(3～5μm)反射率基准的光学通道在轨定标验证方法。主要包括：A)利用中波红外高精度在轨定标特性，系统构建以中波红外通道反射率为基准的波段间在轨定标验证模型、理论与方法；B)以海洋耀斑区为验证场景，以中波红外通道大气层顶反射率为参考基准的进行波段间在轨定标验证。本发明为全谱段传感器在轨辐射定标与验证提供新途径，为提高航天载荷定量化水平提供有效验证手段。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京大学 |
| 发明人： | 林沂;赵帅阳;晏磊;胡兴帮;李延飞;景欣 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810264534.3 |
| 公开号： | CN108680534A |
| 代理机构： | 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 |
| 代理人： | 余长江 |
| 分类号： | G01N21/55(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/55 |
| 申请人地址： | 100871 北京市海淀区颐和园路5号北京大学 |
| 主权项： | 1.基于中波红外反射率基准的光学通道在轨定标验证方法，包括以下步骤：选定海水耀斑区作为定标验证场景，选定VIIRS中波红外通道数据作为定标验证参考基准；根据VIIRS中波红外通道数据，计算大气层顶中波红外通道反射率并评价其精度，作为定标验证模型的基准；构建基准通道和待评价光学通道的反射率关系；通过大气辐射传输模型将该关系传输至大气层顶，得到大气层顶基准通道反射率与待评价光学通道反射率的线性关系；根据前述定标验证模型的基准计算待评价光学通道的大气层顶理论反射率；将待评价光学通道的大气层顶理论反射率值与遥感影像观测的大气层顶反射率比较，得到VIIRS光学通道的大气层顶反射率偏差。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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