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一种荧光氧化钼量子点测定痕量铀（Ⅵ）的方法
| 专利名称： | 一种荧光氧化钼量子点测定痕量铀（Ⅵ）的方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种荧光氧化钼量子点作为指示剂，通过铀(Ⅵ)加入前后的氧化钼量子点的荧光强度对铀(Ⅵ)进行定性和定量分析的方法。本方法检测中发现，大部分金属离子对铀(Ⅵ)检测不产生干扰；同时通过定量检测，结果发现，加标回收率为99.7‑100.6％，说明本方法准确可靠。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江西;36 |
| 申请人： | 东华理工大学 |
| 发明人： | 肖赛金;楚曌君;刘云海;张志宾;戴荧;徐函 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810205403.8 |
| 公开号： | CN108680541A |
| 代理机构： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 |
| 代理人： | 夏艳 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64 |
| 申请人地址： | 330013 江西省南昌市经开区广兰大道418号 |
| 主权项： | 1.一种荧光氧化钼量子点测定痕量铀(Ⅵ)的方法，其特征在于，以荧光氧化钼量子点作为指示剂，通过铀(Ⅵ)加入前后的氧化钼量子点的荧光强度对铀(Ⅵ)进行定性和定量分析。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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