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原文传递 一种阵列式线扫描荧光显微成像装置
专利名称: 一种阵列式线扫描荧光显微成像装置
摘要: 本发明公开了一种阵列式线扫描荧光显微成像装置,包括:三维平移台以及两个成像结构;三维平移台用于使得样本沿X方向、Y方向以及Z方向移动;两个成像结构中,每一个成像结构用于在一次扫描中通过斜探测的方式对样品表面的一个成像条带进行线扫描成像,从而以阵列的形式实现同一平面的多线同时扫描成像;成像结构包括激发光模块和探测模块;激发光模块用于产生一条由激光束整形得到指定宽度的激发线光斑,激光束的发散角和倾斜角均可调节;探测模块用于将激发线光斑汇聚到样品表面,激发样品产生荧光信号,并对样品产生荧光信号进行探测成像。本发明可有效提高线扫描成像的成像速度,并降低系统的调节难度。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 湖北;42
申请人: 华中科技大学
发明人: 吕晓华;曾绍群;李宁;尹芳芳;白柯;黄飞;刘越
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810251974.5
公开号: CN108680542A
代理机构: 华中科技大学专利中心 42201
代理人: 曹葆青;廖盈春
分类号: G01N21/64(2006.01)I;G02B21/00(2006.01)I;G;G01;G02;G01N;G02B;G01N21;G02B21;G01N21/64;G02B21/00
申请人地址: 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
主权项: 1.一种阵列式线扫描荧光显微成像装置,其特征在于,包括:三维平移台以及两个成像结构;所述三维平移台用于使得样本沿X方向、Y方向以及Z方向移动,实现对样本的三维扫描成像;所述两个成像结构中,每一个成像结构用于在一次扫描中通过斜探测的方式对样品表面的一个成像条带进行线扫描成像;所述两个成像结构在样本表面的成像区域的X方向位置相同且Y方向位置相邻,从而以阵列的形式实现同一平面的多线同时扫描成像;所述成像结构包括:激发光模块(11)和探测模块(12);所述激发光模块(11)用于产生一条由激光束整形得到的激发线光斑,所述激光束的发散角和倾斜角均可调节;所述探测模块(12)用于将激发线光斑汇聚到样品表面,激发样品产生荧光信号,并对样品产生荧光信号进行探测成像;基于激光束的发散角可调节,经激光束整形得到的激发线光斑被汇聚后的Z方向位置可调节;基于激光束的倾斜角可调节,经激光束整形得到的激发线光斑被汇聚后的X方向位置可调节;其中,X方向为扫描方向,Z方向为样本轴向,Y方向为同一平面内成像条带的分布方向,并且X方向、Y方向、Z方向构成右手坐标系。
所属类别: 发明专利
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