专利名称: |
细胞样本的细胞计数分析方法 |
摘要: |
细胞样本的细胞计数分析方法。本发明涉及借助用于显微检查多个细胞样本的显微镜来细胞计数分析多个细胞样本的方法,其中显微镜可以或优选选择性地和/或交替地以透射模式和/或荧光模式、尤其落射荧光模式操作,并且至少一个细胞样本具有至少一个荧光标记。尤其该方法中规定,在透射模式下记录的图像中检测细胞样本的细胞或细胞组分的位置和/或轮廓,并然后根据细胞样本中细胞或细胞组分的检测到的位置和/或轮廓分析在荧光模式下记录的图像的检测到的强度,和/或在荧光模式的图像中检测细胞样本的细胞或细胞组分的位置和/或轮廓,并然后根据细胞样本中细胞或细胞组分的检测到的位置和/或轮廓分析在透射模式下记录的图像的检测到的强度。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
德国;DE |
申请人: |
奥林巴斯软成像解决方案公司 |
发明人: |
M·沃德曼;S·迪彭布罗克;S·赫夫林;D·克鲁格 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810299191.4 |
公开号: |
CN108693098A |
代理机构: |
北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人: |
吕俊刚;杨薇 |
分类号: |
G01N15/10(2006.01)I;G01N15/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/10;G01N15/00 |
申请人地址: |
德国明斯特 |
主权项: |
1.一种用于借助显微镜对多个细胞样本进行细胞计数分析的方法,所述显微镜用于在显微镜下检查多个细胞样本,其中,所述显微镜能够在透射模式和/或荧光模式下进行操作,或者在透射模式和/或荧光模式下进行操作,并且其中,至少一个细胞样本具有至少一个荧光标记,所述方法具有以下方法步骤:‑使所述细胞样本相对于具有至少一个显微镜相机的所述显微镜的光学系统在一个平面中连续移动,‑其中,在所述细胞样本的所述移动期间,借助所述至少一个显微镜相机,在所述透射模式或所述荧光模式下记录所述细胞样本的子区域的至少一个或更多个图像,并且在所述荧光模式下记录所述细胞样本的同一子区域的至少一个或更多个图像,‑其中,所述透射模式或所述荧光模式下的所述细胞样本的所述同一子区域的所述至少一个或更多个图像和所述荧光模式下的所述细胞样本的所述同一子区域的至少一个或更多个图像彼此在位置上相关联,‑并且其中,在所述透射模式的所述图像中检测所述细胞样本的细胞或细胞组分的位置和/或轮廓,并然后根据所述细胞样本中细胞或细胞组分的所检测到的位置和/或轮廓来分析在所述荧光模式下记录的所述图像的所检测到的强度,和/或其中,在所述荧光模式的所述图像中检测所述细胞样本的细胞或细胞组分的所述位置和/或轮廓,并然后根据所述细胞样本中细胞或细胞组分的所检测到的位置和/或轮廓来分析在所述透射模式下记录的所述图像的所检测到的强度,和/或其中,在荧光模式的所述图像中检测所述细胞样本的细胞或细胞组分的所述位置和/或轮廓,并然后根据所述细胞样本中细胞或细胞组分的所检测到的位置和/或轮廓来分析在第二荧光模式下记录的所述图像的所检测到的强度。 |
所属类别: |
发明专利 |