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长脉冲红外无损检测序列图像处理方法与系统
| 专利名称： | 长脉冲红外无损检测序列图像处理方法与系统 |
| 摘要： | 本发明公开了一种长脉冲红外无损检测序列图像处理方法与系统，该方法包括多项式拟合、快速傅里叶处理、像素点处理、灰度级数扩展、细节增强、数据转化、序列图处理、缺陷汇总等步骤。本发明的处理方法、装置及检测系统和方法，在复合材料无损检测与评估中十分高效，其成本仅为脉冲热加载装置的百分之一，且激励能量较高，适用于金属材料及复合材料中深度较大缺陷的检测；并且其采用普通的卤素红外灯作为光源，利用序列图像处理方法针对性的增强缺陷细节信息。本发明的图像处理方法和装置以及检测系统和方法具有经济、实用的特点。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海大学 |
| 发明人： | 张东升;魏延杰 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810784258.3 |
| 公开号： | CN109060822A |
| 代理机构： | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 |
| 代理人： | 张欢勇 |
| 分类号： | G01N21/88(2006.01)I;G06T5/50(2006.01)I;G06T7/00(2017.01)I;G;G01;G06;G01N;G06T;G01N21;G06T5;G06T7;G01N21/88;G06T5/50;G06T7/00 |
| 申请人地址： | 200444 上海市宝山区上大路99号 |
| 主权项： | 1.一种序列红外图像处理方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：步骤1、将序列红外图像中某一像素点的时间‐热辐射信号转化至对数域上并使用最小二乘法的对数域进行多项式拟合；步骤2、将拟合后的数据再恢复至时间域上并进行快速傅里叶处理，以计算出频率域上的相位信号或幅值信号；步骤3、对序列图像中每个像素点重复步骤1～2，直至得到完整的相位序列图O或幅值序列图O；步骤4、再将相位图像或幅值图像O扩展至更加精确的灰度级数得到灰度相位图像O'，以便进行之后的图像增强处理；步骤5、利用红外缺陷增强算法对上述步骤扩展后得到的相位图像O'进行细节增强，划分图像O'为细节层D与背景层B，针对性地增强图像细节信息后，再将细节与背景融合形成新的相位图像O”；以获得高质量的相位数据，清晰显示缺陷形状及位置，便于缺陷尺寸的定量计算；步骤6、利用自适应伽马变换将增强后的相位图像O”转化为图像格式E；步骤7、对所有的序列图像重复步骤5～6以对每个序列图像均进行相应地处理，得到图像增强后的序列图像E1、E2…….EN；步骤8、针对不同深度的缺陷出现的最佳时刻不在同一张图像上这一问题，利用序列图中缺陷处与无缺陷处信号的差异，对缺陷信息进行汇总处理，从而可以得到一幅可以清晰的显示所有缺陷信息的最终红外图像E'。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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