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一种软包电池密封寿命的预测方法及系统
| 专利名称： | 一种软包电池密封寿命的预测方法及系统 |
| 摘要： | 本发明公开一种软包电池密封寿命的预测方法及系统，所述方法包括：根据薄膜分条疲劳加载试验数据得到完全撕裂位移和内聚强度从而确定薄膜标准内聚力公式；然后根据薄膜分条加速退化试验数据确定撕裂强度退化率；根据所述撕裂强度退化率和所述薄膜标准内聚力确定直接撕裂阶段的薄膜内聚力公式，最后接撕裂阶段的薄膜内聚力曲线与电池薄膜的产气方程确定的实际受力曲线的交点确定软包电池的密封寿命。本发明的软包电池密封寿命的预测方法通过加速退化试验来修正内聚力模型，提出了含有时间因子的修正内聚力模型，更符合实际情况。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京航空航天大学 |
| 发明人： | 张慰;刘宇鸣 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810578823.0 |
| 公开号： | CN108760619A |
| 代理机构： | 北京高沃律师事务所 11569 |
| 代理人： | 王戈 |
| 分类号： | G01N19/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N19;G01N19/00 |
| 申请人地址： | 100000 北京市海淀区学院路37号 |
| 主权项： | 1.一种软包电池密封寿命的预测方法，其特征在于，包括：根据薄膜分条疲劳加载试验数据得到完全撕裂位移和内聚强度；根据所述完全撕裂位移和内聚强度确定薄膜标准内聚力公式，其表达式为： |
| 所属类别： | 发明专利 |
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