原文传递
一种铯钨青铜粉体结晶度的评价方法
| 专利名称： | 一种铯钨青铜粉体结晶度的评价方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种铯钨青铜粉体结晶度的评价方法，采用SiC粉体与铯钨青铜粉体混合后进行XRD测试，通过将铯钨青铜的衍射主峰与SiC的衍射主峰对比，能够实现对铯钨青铜粉体的结晶度差异的评判，从而判断铯钨青铜合成纳米粉体的气敏、光催化、光/气/电致变色、透明导电、透明隔热、光热转换等性质的高低，判断合成工艺的有效性，大量减少探索合成工艺的实验，大量节约成本。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 福建;35 |
| 申请人： | 厦门大学 |
| 发明人： | 黄悦;林树莹;周忠华 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810524205.8 |
| 公开号： | CN108760783A |
| 代理机构： | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 |
| 代理人： | 张松亭;秦彦苏 |
| 分类号： | G01N23/2055(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/2055 |
| 申请人地址： | 361000 福建省厦门市思明南路422号 |
| 主权项： | 1.一种铯钨青铜粉体结晶度的评价方法，其特征在于：包括：1)将CsxWO3粉体与纯度不低于99.9％的纳米SiC粉体按照质量比为1:1～3的比例混合均匀，得到混合粉体；其中0＜x＜1；2)取混合粉体进行XRD表征；3)以SiC衍射主峰的高度HSC为分母，以CsxWO3粉体衍射主峰的高度HCWO与HSC的差值HCWO‑HSC为分子，按照Z＝(HCWO‑HSC)/HSC，计算得到比值Z；4)当所述比值Z大于0时，比值Z的绝对值越大，CsxWO3粉体的结晶度越高；当所述比值Z小于0时，比值Z的绝对值越大，CsxWO3粉体的结晶度越低。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
