专利名称: |
高检测精度的汞检测仪 |
摘要: |
本实用新型涉及一种高检测精度的汞检测仪,其包括紫外光光源系统,设置在紫外光光源系统入射光路上的聚焦透镜和气样流通池,气样流通池上方的荧光检测装置以及系统控制电路,紫外光光源系统包括汞灯高低调节底座,设置在汞灯高低调节底座上的汞灯灯罩以及设置在汞灯灯罩内的笔形汞灯,其特征在于:其还包括一杂散光吸收装置,杂散光吸收装置设置在聚焦透镜和气样流通池之间;紫外光光源系统发出的紫外光经聚焦透镜进行聚焦后,进入杂散光吸收装置进行杂散光吸收,之后对进入气样流通池内的含汞气样流进行照射,气样流通池内汞原子被激发出的荧光由荧光检测装置检测,得到气样流中汞原子浓度。本实用新型可以广泛应用于汞类化合物检测中。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京普立泰科仪器有限公司 |
发明人: |
田莉娟;邵涛;胡江波;许福斌 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201820347229.6 |
公开号: |
CN208297349U |
代理机构: |
北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 |
代理人: |
徐宁;孙楠 |
分类号: |
G01N21/64(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64;G01N21/01 |
申请人地址: |
100095 北京市海淀区温泉镇高里掌路翠湖科技园15号楼一单元一层 |
主权项: |
1.一种高检测精度的汞检测仪,其包括紫外光光源系统,设置在所述紫外光光源系统入射光路上的聚焦透镜和气样流通池,设置在所述气样流通池上方的荧光检测装置以及系统控制电路,所述紫外光光源系统包括汞灯高低调节底座,设置在所述汞灯高低调节底座上的汞灯灯罩以及设置在所述汞灯灯罩内的笔形汞灯,其特征在于:其还包括一杂散光吸收装置,所述杂散光吸收装置设置在所述聚焦透镜和气样流通池之间;所述紫外光光源系统发出的紫外光经所述聚焦透镜进行聚焦后,进入所述杂散光吸收装置进行杂散光吸收,之后对进入所述气样流通池内的含汞气样流进行照射,所述气样流通池内汞原子被激发出的荧光由所述荧光检测装置检测,得到气样流中汞原子浓度。 |
所属类别: |
实用新型 |