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原文传递 大米加工精度的检测装置和大米加工控制系统
专利名称: 大米加工精度的检测装置和大米加工控制系统
摘要: 本实用新型提出了一种大米加工精度的检测装置和大米加工控制系统,所述检测装置包括:排布设备和滑道,排布设备的进料端连接上游大米加工产线,出料端连接滑道的一端,排布设备用于将从上游大米加工产线取样的大米排布成单粒米流,并控制大米逐粒沿滑道滑下;N个图像采集设备,N个图像采集设备均设置在滑道下方,N个图像采集设备分别以相应视角采集大米从滑道滑至相应图像采集设备视场内时的图像,以获取N个图像;图像处理设备,图像处理设备分别与N个图像采集设备相连,图像处理设备用于根据M个大米的M*N个图像获取大米加工精度。该检测装置能够实现大米加工精度的在线检测,且准确性高,从而有助于实现大米的在线加工控制。
专利类型: 实用新型
国家地区组织代码: 安徽;34
申请人: 合肥美亚光电技术股份有限公司
发明人: 常宏;井长龙;尹传祥
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201820673749.6
公开号: CN208297372U
代理机构: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
代理人: 张润
分类号: G01N21/88(2006.01)I;G05B19/04(2006.01)I;G;G01;G05;G01N;G05B;G01N21;G05B19;G01N21/88;G05B19/04
申请人地址: 230088 安徽省合肥市高新技术产业开发区望江西路668号
主权项: 1.一种大米加工精度的检测装置,其特征在于,包括:排布设备和滑道,所述排布设备的进料端连接上游大米加工产线,所述排布设备的出料端连接所述滑道的一端,所述排布设备用以将从所述上游大米加工产线取样的大米排布成单粒米流,并控制大米逐粒沿所述滑道滑下;N个图像采集设备,N个所述图像采集设备均设置在所述滑道下方,当大米从所述滑道滑至每个所述图像采集设备视场内时,对应的所述图像采集设备分别以相应视角采集所述大米的图像,以获取N个图像,其中,N为大于或者等于3的整数;图像处理设备,所述图像处理设备分别与N个所述图像采集设备相连,所述图像处理设备用以根据M个大米的M*N个图像获取大米加工精度,其中,M为大于或者等于1的整数。
所属类别: 实用新型
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