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多波段多角度检测装置及检测方法
| 专利名称： | 多波段多角度检测装置及检测方法 |
| 摘要： | 一种多波段、多角度检测装置及检测方法，包括多波段、多角度检测装置主要包括光源模块、探测模块、整体框架、三维样品平台、控制模块。对于不同领域、不同现场的痕迹，该装置及检测方法可对其高效的进行多波段、多角度的勘察与拍摄，准确、方便的得到检材上痕迹和客体背景高对比度的图像，获得清晰的痕迹细微结构特征。可为各个研究领域提供有力的技术支持。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 发明人： | 黄立华;魏巍;凌丽青;郭凯;黄惠杰 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810729187.7 |
| 公开号： | CN109100337A |
| 代理机构： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 |
| 代理人： | 张宁展 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64 |
| 申请人地址： | 201800 上海市嘉定区清河路390号 |
| 主权项： | 1.一种多波段多角度检测装置，其特征在于：包括光源模块(1)、探测模块(2)、整体框架(3)、三维样品平台(4)、控制模块(5)，所述的整体框架(3)成球冠壳形，所述的探测模块(2)位于所述的整体框架(3)的顶部，所述的光源模块(1)包括数十个光学模组，该数十个光学模组均匀地分布在所述的整体框架(3)中，每个光学模组包括多波段光源(101)、匀光片(102)、光源座(103)和驱动电路(104)，所述的多波段光源(101)包括白光、紫外线、红外线光源，所述的匀光片(102)靠近所述的多波段光源(101)放置，所述的光源座(103)固定所述的多波段光源(101)，所述的三维样品平台(4)位于所述的整体框架(3)的正下方，所述的控制模块(5)的输出端与所述的光源模块(1)、所述的探测模块(2)、所述的三维样品平台(4)的控制端相连，所述的驱动电路(104)的两端分别与所述的多波段光源(101)、所述的控制模块(5)相连；所述的探测模块(2)包括成像组件(201)和光谱测量组件(202)，所述的成像组件包括相机、镜头、滤光片；所述的控制模块(5)包括电源组件(501)、同步控制板卡组件(502)和计算机组件(503)，所述的电源组件(501)分别与所述的光源模块(1)、所述的探测模块(2)、所述的三维样品平台(4)相连并提供电源，所述的电源组件(501)还可以调节所述的光源模块(1)的电流，所述的计算机组件(503)通过所述的同步控制板卡组件(502)控制所述的多波段光源(101)的点亮顺序、点亮时间以及控制并接收所述的探测模块(2)的成像组件(201)拍摄图像或光谱测量组件(202)探测检材表面激发出的荧光光谱，对所述的成像组件(201)的图像结果进行数据处理。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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