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一种低碳贝氏体钢中残余奥氏体的分析方法
| 专利名称： | 一种低碳贝氏体钢中残余奥氏体的分析方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种低碳贝氏体钢中残余奥氏体的分析方法，通过本发明可以有效分析低碳贝氏体钢中的残余奥氏体形貌特征及其体积占比情况，同时还可以分析残余奥氏体中C、Mn元素的分布情况。该方法是将低碳钢板通过预处理后得到贝氏体钢圆柱试样，然后通过室温拉伸将其拉断，在距离断口2mm和4mm的横断面处用纳米压痕仪压制5个点标记，利用EBSD背散射仪扫描标记处，得到残余奥氏体形貌和体积占比情况，再用电子探针EPMA检测标记处C、Mn元素分布，将EBSD扫描数据和EPMA电子探针检测数据进行叠加分析。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 河北;13 |
| 申请人： | 华北理工大学 |
| 发明人： | 魏英立;田亚强;郑小平;宋进英;陈连生;刘倩;张荣华;李红斌 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810815593.5 |
| 公开号： | CN109100378A |
| 代理机构： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 |
| 代理人： | 汤东凤 |
| 分类号： | G01N23/203(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/203 |
| 申请人地址： | 063210 河北省唐山市曹妃甸区唐山湾生态城渤海大道21号华北理工大学曹妃甸校区 |
| 主权项： | 1.一种低碳贝氏体钢中残余奥氏体的分析方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)将低碳贝氏体钢制成待测试样；(2)通过拉伸实验将经过步骤(1)的试样拉断；(3)拉断变形后，在距离断口不同距离处将待测试样做纳米压痕标记处理；(4)利用EBSD背散射仪分别扫描标记处不同区域，得到残余奥氏体形貌和体积分数；(5)利用EPMA电子探针检测标记处的C、Mn元素分布情况。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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