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一种基于差示扫描量热法对LED元器件的稳定性和可靠性的检测方法
| 专利名称： | 一种基于差示扫描量热法对LED元器件的稳定性和可靠性的检测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于差示扫描量热法对LED元器件的稳定性和可靠性的检测方法，其特征在于包括如下步骤：1）取样；2）拆解分组；3）预处理；4）标准样品比热曲线测试；5）试样测试；6）DSC曲线参数计算；7）自由能计算；8）比较判定。这种方法能够快速准确的对LED元器件各部分的稳定性作出判断并对LED元器件的可靠性进行评估，为LED元器件的构件选材提供参考，从而提高产品质量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广西;45 |
| 申请人： | 桂林电子科技大学 |
| 发明人： | 刘东静;樊亚松;张朝阳;郑贵方;杨道国;刘汗青 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201710915217.9 |
| 公开号： | CN107607581A |
| 代理机构： | 桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司 45112 |
| 代理人： | 刘梅芳 |
| 分类号： | G01N25/20(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25;G01N25/20 |
| 申请人地址： | 541004 广西壮族自治区桂林市七星区金鸡路1号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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