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原文传递一种晶振抓取测试分类装置

专利名称：	一种晶振抓取测试分类装置
摘要：	本发明涉及一种晶振抓取测试分类装置，包括机架，所述分度转盘右侧设置有抓取放入机构，且抓取放入机构底部设置有移动槽，所述移动槽内部设置有连接杆，且连接杆右侧设置有驱动电机，所述移动槽底部固定连接有固定柱，所述抓取放入机构右侧设置有供料器底座，且供料器底座顶部设置有供料器，所述供料器底部侧面固定连接有供料器固定片，其供料器内部设置有供料盘，且供料盘中间设置有转轴，所述测试夹具中间设置有螺丝，且螺丝外侧设置有晶体安放槽，所述取料机构侧面固定连接有取料头。该晶振抓取测试分类装置为一个整体结构，可以通过一到套程序实现抓取、测试和筛分的过程，这使得工作效率更高，且错误率更低。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳市铭宇泰科技有限公司
发明人：	唐新君
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201711125472.X
公开号：	CN107720256A
分类号：	B65G47/90(2006.01)I;B;B65;B65G;B65G47;B65G47/90
申请人地址：	523000 广东省深圳市宝安区43区兴华一路北A栋五楼之二
主权项：	一种晶振抓取测试分类装置，包括机架（5），其特征在于：所述机架（5）表面固定连接有取料机构（1），其取料机构（1）底部固定连接有电机连接杆（2），且电机连接杆（2）底部固定连接有取料驱动电机（3），所述取料机构（1）右侧设置有分料盒（4），且分料盒（4）表面设置有入料口（16），所述分料盒（4）前端设置有分度转盘（10），其分度转盘（10）底部设置有升降机构（12），且升降机构（12）侧面设置有测试针（11），所述分度转盘（10）表面设置有测试夹具（9），且分度转盘（10）底部设置有分度器（21），所述分度转盘（10）右侧设置有抓取放入机构（8），且抓取放入机构（8）底部设置有移动槽（19），所述移动槽（19）内部设置有连接杆（17），且连接杆（17）右侧设置有驱动电机（18），所述移动槽（19）底部固定连接有固定柱（20），所述抓取放入机构（8）右侧设置有供料器底座（7），且供料器底座（7）顶部设置有供料器（6），所述供料器（6）底部侧面固定连接有供料器固定片（15），其供料器（6）内部设置有供料盘（13），且供料盘（13）中间设置有转轴（14），所述测试夹具（9）中间设置有螺丝（23），且螺丝（23）外侧设置有晶体安放槽（22），所述取料机构（1）侧面固定连接有取料头（24）。
所属类别：	发明专利