专利名称: |
一种波谱能谱复合型X射线荧光光谱仪 |
摘要: |
一种波谱能谱复合型X射线荧光光谱仪,包括X射线源、滤光片切换机构、样品运动台、样品杯、光阑切换机构、初级准直器切换机构、分光晶体切换机构、次级准直器切换机构、流气式正比计数器、闪烁计数器、SDD探测器、主控板以及PC机。本实用新型的优点是,在对样品进行整体成分分析和分布分析时,既可以采用能谱功能快速完成检测或点/面扫描,也可以采用波谱功能对样品整体或某一区域进行元素分析和分布分析,本实用新型实现了波谱能谱功能的有机结合,并使两项功能都能应用在样品整体的元素成分分析和分布分析,具有高分辨、快速、灵活及可组合的特点,不仅可以提高分析结果的可靠性,也可以明显提高检测效率。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
国家地质实验测试中心;钢研纳克检测技术股份有限公司 |
发明人: |
邓赛文;周超;袁良经;黄俊杰;宋春苗;胡学强;陶迪 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201820591698.2 |
公开号: |
CN208076423U |
代理机构: |
北京双收知识产权代理有限公司 11241 |
代理人: |
楼湖斌 |
分类号: |
G01N23/223(2006.01)I;G01N23/2204(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/223;G01N23/2204 |
申请人地址: |
100037 北京市西城区百万庄大街26号 |
主权项: |
1.一种波谱能谱复合型X射线荧光光谱仪,其特征在于:该波谱能谱复合型X射线荧光光谱仪包括X射线源(1)、滤光片切换机构(2)、样品运动台(3)、样品杯(4)、光阑切换机构(5)、初级准直器切换机构(6)、分光晶体切换机构(7)、次级准直器切换机构(8)、流气式正比计数器(9)、闪烁计数器(10)、SDD探测器(11)、主控板(13)以及PC机(14),所述样品杯(4)设置在样品运动台(3)上,所述X射线源(1)、滤光片切换机构(2)、样品杯(4)、光阑切换机构(5)、初级准直器切换机构(6)、分光晶体切换机构(7)、次级准直器切换机构(8)与闪烁计数器(10)依次为光路连接,所述X射线源(1)、滤光片切换机构(2)、样品运动台(3)、光阑切换机构(5)、初级准直器切换机构(6)、分光晶体切换机构(7)、次级准直器切换机构(8)、流气式正比计数器(9)和闪烁计数器(10)与主控板(13)之间均为电气连接,所述主控板(13)和SDD探测器(11)与PC机(14)之间均为电气连接。 |
所属类别: |
实用新型 |