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一种基于一元二次回归模型定量反演岩石SiO2含量的方法
| 专利名称： | 一种基于一元二次回归模型定量反演岩石SiO2含量的方法 |
| 摘要： | 本发明属于一种基于一元二次回归模型定量反演岩石SiO2含量的方法，具体包括：一、岩石发射率光谱测量，获取岩石样本发射率曲线；二、岩石样品SiO2含量室内定量化学分析；三、表征岩石SiO2含量诊断波长选取和光谱指数构建；四、构建岩石样品SiO2含量定量反演模型；五、岩石样品SiO2含量定量反演模型精度评价。通过主观和客观评价得出该模型反演精度优于90％，可用于野外快速准确的识别岩石SiO2含量，大大降低了岩石SiO2含量室内化学分析的时间和经济成本，这对加快与硅化、石英脉相关的矿产勘查进度具有重要的推动意义。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 核工业北京地质研究院 |
| 发明人： | 王俊虎;杜锦锦 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201610929221.6 |
| 公开号： | CN108007871A |
| 代理机构： | 核工业专利中心 11007 |
| 代理人： | 高尚梅 |
| 分类号： | G01N21/25(2006.01)I;G01N5/04(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N5;G01N21/25;G01N5/04 |
| 申请人地址： | 100029 北京市朝阳区小关东里十号院 |
| 主权项： | 一种基于一元二次回归模型定量反演岩石SiO2含量的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一、岩石发射率光谱测量；选用野外采集的若干个岩石样本，对每一个岩石样本均进行热红外辐亮度测量，并进行发射率分离，获得所有岩石样本的发射率曲线；步骤二、岩石样品SiO2含量室内定量化学分析；；对岩石样本进行SiO2含量和烧失量百分比分析，用岩石样本SiO2含量百分比减去烧失量百分比即岩石样本的真实SiO2含量，剔除SiO2含量低的岩石样本，剩余岩石样本组成样本集；步骤三、表征岩石SiO2含量诊断波长选取和光谱指数构建；在岩石样本集的发射率曲线中，从8.00～9.70μm波长区间内，选取第1个特征发射谷对应的波长λ1和第一个特征发射峰对应的波长λ2，获取每一个样品λ1波段对应的发射率εm1和λ2波段对应的发射率εm2，计算每个岩石样本的SiO2光谱指数Xm；步骤四、岩石样品SiO2含量定量反演模型构建；基于二分之一岩石样本集岩石的SiO2光谱指数X，及其岩石样本的真实SiO2含量，运用统计学原理，构建一元二次回归模型即SiO2含量定量反演模型；步骤五、岩石样品SiO2含量定量反演模型精度评价；以剩余二分之一岩石样品集的岩石样本SiO2光谱指数X为变量，代入上述反演模型，得到样品集每一个岩石样本的SiO2反演含量；通过对每一个样本的SiO2反演含量与真实含量统计分析得出，一元二次回归模型的平均反演精度高于90％，为有效反演模型。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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