专利名称: |
一种基于逐级磁饱和结构的高速漏磁检测系统 |
摘要: |
本发明提出了一种基于逐级磁饱和结构的高速漏磁检测系统,在一条直线上有多个磁化单元,每个磁化单元皆设有供电单元、检测存储装置、L型卡件和可变形支架;磁化单元为两端外翻的空心圆环状,L型卡件一侧连接于磁化单元的端部,另一侧连接有可变形支架,可变形支架呈拱形,可变形支架拱形两端部与检测存储装置连接固定在一起,磁化单元通过电线与供电单元连接,磁化单元之间通过可伸缩垫圈连接。本检测系统采用多级直流线圈磁化结构,可实现磁场的叠加和磁场强度的任意调节,可有效减少高速下涡流效应影响,有效提高漏磁检测速度,同时供电单元内部设置空气开关,可有效确保系统安全。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
辽宁;21 |
申请人: |
沈阳工业大学 |
发明人: |
杨理践;耿浩;高松巍;王国庆 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810052012.7 |
公开号: |
CN107941901A |
代理机构: |
沈阳智龙专利事务所(普通合伙) 21115 |
代理人: |
宋铁军 |
分类号: |
G01N27/83(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/83 |
申请人地址: |
110870 辽宁省沈阳市经济技术开发区沈辽西路111号 |
主权项: |
一种基于逐级磁饱和结构的高速漏磁检测系统,包括供电单元、磁化单元、检测存储装置、可伸缩垫圈、L型卡件和可变形支架,其特征在于:在一条直线上有多个磁化单元,每个磁化单元皆设有供电单元、检测存储装置和L型卡件;磁化单元为两端外翻的空心圆环状,L型卡件一侧连接于磁化单元的端部,另一侧连接有可变形支架,可变形支架呈拱形,可变形支架拱形两端部与检测存储装置连接固定在一起,磁化单元通过电线与供电单元连接,磁化单元之间通过可伸缩垫圈连接。 |
所属类别: |
发明专利 |