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原文传递 一种基于逐级磁饱和结构的高速漏磁检测系统
专利名称: 一种基于逐级磁饱和结构的高速漏磁检测系统
摘要: 本发明提出了一种基于逐级磁饱和结构的高速漏磁检测系统,在一条直线上有多个磁化单元,每个磁化单元皆设有供电单元、检测存储装置、L型卡件和可变形支架;磁化单元为两端外翻的空心圆环状,L型卡件一侧连接于磁化单元的端部,另一侧连接有可变形支架,可变形支架呈拱形,可变形支架拱形两端部与检测存储装置连接固定在一起,磁化单元通过电线与供电单元连接,磁化单元之间通过可伸缩垫圈连接。本检测系统采用多级直流线圈磁化结构,可实现磁场的叠加和磁场强度的任意调节,可有效减少高速下涡流效应影响,有效提高漏磁检测速度,同时供电单元内部设置空气开关,可有效确保系统安全。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 辽宁;21
申请人: 沈阳工业大学
发明人: 杨理践;耿浩;高松巍;王国庆
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810052012.7
公开号: CN107941901A
代理机构: 沈阳智龙专利事务所(普通合伙) 21115
代理人: 宋铁军
分类号: G01N27/83(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/83
申请人地址: 110870 辽宁省沈阳市经济技术开发区沈辽西路111号
主权项: 一种基于逐级磁饱和结构的高速漏磁检测系统,包括供电单元、磁化单元、检测存储装置、可伸缩垫圈、L型卡件和可变形支架,其特征在于:在一条直线上有多个磁化单元,每个磁化单元皆设有供电单元、检测存储装置和L型卡件;磁化单元为两端外翻的空心圆环状,L型卡件一侧连接于磁化单元的端部,另一侧连接有可变形支架,可变形支架呈拱形,可变形支架拱形两端部与检测存储装置连接固定在一起,磁化单元通过电线与供电单元连接,磁化单元之间通过可伸缩垫圈连接。
所属类别: 发明专利
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