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一种三轴实验仪试件质量测量装置
| 专利名称： | 一种三轴实验仪试件质量测量装置 |
| 摘要： | 本发明公开了一种三轴实验仪试件质量测量装置，包括三轴实验加载系统、用于放置试件的三轴仪应力室，还包括：质量检测单元，用于检测试件的质量，并将试件的质量信号转变成电信号；质量输出单元，用于输出质量信息；所述质量检测单元设置在三轴仪应力室底端，且该质量检测单元将检测的结果输出给所述质量输出单元。本发明可以取代传统天平测量方式，对试件在三轴实验前、后进行质量测量，不仅大大提高了试件测量的准确性，还减少了人为测量试件质量的步骤，操作简便，大大提高了实验效率。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 福建;35 |
| 申请人： | 华侨大学 |
| 发明人： | 俞缙;廖仁国;蔡燕燕;刘士雨;涂兵雄;周建烽 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810011124.8 |
| 公开号： | CN108106940A |
| 代理机构： | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 |
| 代理人： | 张松亭;叶碎银 |
| 分类号： | G01N3/08(2006.01)I;G01N3/06(2006.01)I;G01N5/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N3;G01N5;G01N3/08;G01N3/06;G01N5/00 |
| 申请人地址： | 362000 福建省泉州市丰泽区城东城华北路269号 |
| 主权项： | 一种三轴实验仪试件质量测量装置，包括三轴实验加载系统、用于放置试件的三轴仪应力室，其特征在于：还包括：质量检测单元，用于检测试件的质量，并将试件的质量信号转变成电信号；质量输出单元，用于输出质量信息；所述质量检测单元设置在三轴仪应力室底端，且该质量检测单元将检测的结果输出给所述质量输出单元。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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