专利名称: |
一种基于超浸润微芯片的快速检测水质中重金属的方法 |
摘要: |
一种基于超浸润微芯片的快速检测水质中重金属的方法,属于材料制备和化学检测分析领域。该方法首先将疏水二氧化硅颗粒和一种氟硅烷在乙醇溶液中反应制得超疏水的二氧化硅悬浮液;随后将悬浮液涂覆在双面胶一面得到超疏水表面;最后在指定区域等离子体刻蚀得到超亲水微孔得到超浸润芯片,利用胶带的粘性可将超浸润芯片粘贴到特定基底器材上。这种超浸润芯片可以将显色试剂浓缩、富集在超亲水微孔上,制备上好的超浸润芯片通过简单蘸取操作即可把被检测液固定在超亲水位点上,利用亲水点上固定的检测试剂实现比色法检测。本发明方法既解决了传统仪器分析方法的高成本问题,又解决了化学分析法操作繁琐问题,适用于水溶液的快速现场检测。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京科技大学 |
发明人: |
许太林;何学成;许利苹;张学记;王树涛 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810049539.4 |
公开号: |
CN108132214A |
代理机构: |
北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 |
代理人: |
张仲波 |
分类号: |
G01N21/01(2006.01)I;G01N21/78(2006.01)I;G01N33/18(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N33;G01N21/01;G01N21/78;G01N33/18 |
申请人地址: |
100083 北京市海淀区学院路30号 |
主权项: |
一种基于超浸润微芯片的快速检测水质中重金属的方法,其特征在于,超浸润微芯片的自下而上组成包括:基底器材、双面胶带、超疏水纳米二氧化硅涂层;所述基底为金属,橡胶,玻璃,陶瓷中的一种或多种;所述双面胶带一面为离型纸,另一面为胶黏剂;所述超疏水纳米二氧化硅涂层通过线性涂布法涂在所述双面胶带的离型纸一面,涂层上设有超亲水微孔,用于浓缩富集显色物质。 |
所属类别: |
发明专利 |