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精密浆料中大杂质颗粒的全息检测和表征
| 专利名称： | 精密浆料中大杂质颗粒的全息检测和表征 |
| 摘要： | 通过使用全息视频显微镜检查来检测样本内的杂质。样本流动通过显微镜并生成全息图像。分析全息图像，以识别与样本中的大杂质相关联的区域。确定样本的颗粒对全息图像的贡献并表征杂质。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 美国;US |
| 申请人： | 纽约大学 |
| 发明人： | D·B·鲁弗纳;D·G·戈里尔;L·菲利普斯 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201680062172.9 |
| 公开号： | CN108351288A |
| 代理机构： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
| 代理人： | 魏小薇 |
| 分类号： | G01N15/14(2006.01)I;G01N15/10(2006.01)I;G03H1/08(2006.01)I;G03H1/26(2006.01)I;G;G01;G03;G01N;G03H;G01N15;G03H1;G01N15/14;G01N15/10;G03H1/08;G03H1/26 |
| 申请人地址： | 美国纽约 |
| 主权项： | 1.一种表征样本中的杂质的方法，包括：使所述样本流动通过全息显微镜的观察体积；在第一时间基于所述观察体积内所述样本的全息视频显微镜检查生成第一全息图像；对于与感兴趣的颗粒对应的一个或多个感兴趣的区域分析第一全息图像；由于由光与所述样本的相互作用产生的漫射波的贡献而归一化所述感兴趣的区域；将经归一化的所述感兴趣的区域拟合到光散射理论；以及表征所述感兴趣的颗粒的一个或多个特性。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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