专利名称: |
一种高频磁光谱仪 |
摘要: |
本实用新型涉及材料表面磁性测量领域,一种高频磁光谱仪,包括脉冲激光器、延时器、1/4波片、凹透镜、凸透镜I、平面镜、偏振片、分束器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜I、探针I、透镜座、物镜、样品、波导、样品台、信号发生器、示波器、探测器、偏置三通、放大器I、混频器、放大器II、模数转换器、计算机、原子力显微镜II、探针II、相敏检测器,对单个纳米结构进行测量,对样品表面磁化动态测量能达到亚微米量级空间分辨率,采用高精度的定位装置来获得纳米尺度样品表面的磁化信息,采用两个不同原子力显微镜针尖分别进行接触模式原子力显微镜扫描以及近场时间分辨磁光克尔效应实验,采用频域方法来探测样品表面GHz频段的磁化动态。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
浙江;33 |
申请人: |
金华职业技术学院 |
发明人: |
范晓雯;张向平;潘天娟 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201820674626.4 |
公开号: |
CN208109685U |
分类号: |
G01N21/21(2006.01)I;G01N21/27(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/21;G01N21/27 |
申请人地址: |
321017 浙江省金华市婺州街1188号 |
主权项: |
1.一种高频磁光谱仪,其特征是:主要包括脉冲激光器、延时器、1/4波片、凹透镜、凸透镜I、平面镜、偏振片、分束器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜I、探针I、透镜座、物镜、样品、波导、样品台、信号发生器、示波器、光桥探测器、偏置三通、放大器I、混频器、放大器II、模数转换器、计算机、原子力显微镜II、探针II、相敏检测器、正弦信号发生器、入射光路及反射光路,所述光桥探测器的输入端具有一个45度角的偏振器,所述混频器具有输入端I和输入端II,所述原子力显微镜II与原子力显微镜I结构相同,所述探针I位于原子力显微镜I下端,所述探针II位于原子力显微镜II下端,所述物镜位于透镜座下端,所述脉冲激光器、信号发生器、波导、示波器依次电缆连接,所述光桥探测器、偏置三通、放大器I、混频器、放大器II、模数转换器、计算机依次电缆连接,所述脉冲激光器发射的激光束依次经延时器、1/4波片、凹透镜、凸透镜I、平面镜、偏振片、分束器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜I、探针I,从而形成入射光路,所述激光束照射到样品表面产生的反射光依次经探针I、原子力显微镜I、透镜台、凸透镜II、分束器,从而形成反射光路,所述反射光被分束器偏转至所述光桥探测器,所述透镜台为透光圆盘且具有中心轴,所述原子力显微镜I、透镜座、原子力显微镜II分别位于透镜台下面、且均能够相对于透镜台的位置微调,当透镜台绕其中心轴转动时,能够分别将原子力显微镜I或透镜座或原子力显微镜II置于样品正上方,所述探针II为接触型原子力显微镜探针,波导位于样品台上,通过磁控溅射方法将样品直接接触地制备于波导上表面,所述探针I和探针II为相同外形尺寸的原子力显微镜探针、且外形均为圆台,所述圆台轴线垂直于水平面,所述探针I中具有圆台形通孔,所述光桥探测器输出端与相敏检测器输入端相连,所述相敏检测器的参考频率设置为与所述信号发生器的输出频率一致,相敏检测器输出端连接偏置三通,正弦信号发生器输出端连接混频器输入端II。 |
所属类别: |
实用新型 |