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原文传递一种辐照材料力学性能测试方法

专利名称：	一种辐照材料力学性能测试方法
摘要：	本发明公开了一种辐照材料力学性能测试方法，利用聚焦离子束(FIB)对辐照材料加工成长径比为2‑6:1的微纳柱体，使柱体标距为整个辐照区域，在纳米压痕或电镜的原位微纳力学测试系统中进行单轴压缩或拉伸测试，得应力‑应变曲线，进一步得辐照样品的屈服强度、流变应力和抗拉强度等力学性能指标，能够准确测量辐照区域内材料力学性能，评估材料的辐照损伤程度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	上海交通大学
发明人：	郭强;刘煜;李志强;欧阳求保;张荻
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810629203.5
公开号：	CN108827773A
代理机构：	上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227
代理人：	胡永宏
分类号：	G01N3/08(2006.01)I;G01N3/06(2006.01)I;G01N23/2251(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N3;G01N23;G01N3/08;G01N3/06;G01N23/2251
申请人地址：	200240 上海市闵行区东川路800号
主权项：	1.一种辐照材料力学性能测试方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)根据待测试的辐照材料选择注入离子源，计算注入元素分布和dpa分布，对所述辐照材料进行离子辐照，得离子分布；(2)依据步骤(1)中所述辐照材料的离子分布，利用聚焦离子束将所述辐照材料加工为用于单轴测试的微纳柱体或拉伸样；其中，所述微纳柱体或拉伸样的长径比为2‑6:1，且上、下锥度不大于3°；(3)在纳米压痕或电镜的原位微纳力学测试系统中设定压缩或拉伸参数，用平头压头或特制拉伸夹具对步骤(2)中所述微纳柱体或拉伸样进行单轴压缩或拉伸测试，得应力‑应变曲线，同时在扫描电镜下观察所述辐照材料的变形行为，在透射电镜下观察所述辐照材料的微观组织结构。
所属类别：	发明专利