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原文传递 实现快速测定高性能磁性材料BMS-12中镧、钙、钴各元素含量的方法
专利名称: 实现快速测定高性能磁性材料BMS-12中镧、钙、钴各元素含量的方法
摘要: 本发明公开了一种实现快速测定高性能磁性材料BMS‑12中镧、钙、钴各元素含量的方法,以X射线荧光光谱仪作为检测仪器,预先确定光谱仪的工作参数:利用粉末压片法预先压制的高性能磁性材料BMS‑12的标准样片结合化学测定方式确定X射线荧光光谱仪的工作参数;包括以下步骤:步骤1,建立标准曲线;步骤2,实测样片测量时;后续测量其他实测样片时,则重复该步骤2的测量过程。该方法了改变化学分析程序繁杂且不稳定的现状,提升分析水平和分析品质,并可以节约实验室大量人力、物力,产生间接经济效益。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 北京;11
申请人: 北矿科技股份有限公司
发明人: 周小文;朱泽民;刘荣明;王倩;朱代漫;胡国辉;黄可淼;熊君;贾立颖;全小康;魏汉中;张威峰;王常蕾;葛恒波;刘辉;李炳山
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810690655.4
公开号: CN108827993A
代理机构: 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260
代理人: 郑立明;付久春
分类号: G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/223
申请人地址: 102600 北京市大兴区北兴路东段22号1号楼A座8层
主权项: 1.一种实现快速测定高性能磁性材料BMS‑12中镧、钙、钴各元素含量的方法,其特征在于,以X射线荧光光谱仪作为检测仪器,预先确定光谱仪的工作参数:利用粉末压片法预先压制的高性能磁性材料BMS‑12的标准样片结合化学测定方式确定X射线荧光光谱仪的工作参数;包括以下步骤:步骤1,建立标准曲线:将用粉末压片法预先压制的多个高性能磁性材料BMS‑12的标准样片装入所述X射线荧光光谱仪中,按选定的分析程序,输入各标准样片的相关参数,然后按所述步骤1确定的所述X射线荧光光谱仪的工作参数进行测定,得出镧、钙、钴各元素的X荧光扫描结果值,根据测定得出的X荧光扫描结果值绘制得到高性能磁性材料BMS‑12中镧、钙、钴各元素的校准曲线;步骤2,实测样片测量时,将用粉末压片法压制制成的高性能磁性材料BMS‑12的实测样片,装入所述X射线荧光光谱仪中,按选定的分析程序,输入实测样片的相关参数,由所述X射线荧光光谱仪对实测样片进行测定得出X射线强度,利用所述步骤2已建立的校准曲线根据得出的X射线强度确定实测样片的高性能磁性材料BMS‑12中镧、钙、钴各元素的含量;后续测量其他实测样片时,则重复该步骤2的测量过程。
所属类别: 发明专利
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