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检验X射线检验系统中轮胎元件方位的方法、系统及应用
| 专利名称： | 检验X射线检验系统中轮胎元件方位的方法、系统及应用 |
| 摘要： | 本发明涉及用于以伦琴射线检验系统1来检验某一轮胎类型的轮胎90元件99方位的方法，包括如下步骤：使用该轮胎类型的轮胎90的三维模型，在该模型中，描述了轮胎90元件99的可能方位；拍摄轮胎90的元件99的二维伦琴射线图像，其由如下像素点33构成，像素点由从伦琴管10穿过元件99至伦琴射线探测器15的向量35来描述；将元件99的来自二维伦琴射线图像的像素点33分配给轮胎90的三维模型，其中，穿过伦琴管10的直线和来自带有三维模型的元件99的可能方位的二维伦琴射线图像的像素点33的向量35的交点作为空间中的点，分配给像素点33。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 德国;DE |
| 申请人： | 依科视朗国际有限公司 |
| 发明人： | K·科赫 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810369517.6 |
| 公开号： | CN108827985A |
| 代理机构： | 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 |
| 代理人： | 金辉 |
| 分类号： | G01N23/04(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/04 |
| 申请人地址： | 德国汉堡 |
| 主权项： | 1.用于以伦琴射线检验系统(1)来检验某一轮胎类型的轮胎(90)元件(99)方位的方法，其中，所述伦琴射线检验系统(1)具有伦琴管(10)、线形伦琴射线探测器(15)和操纵器，并且包括如下步骤：‑使用所述轮胎类型的轮胎(90)的三维模型，在所述模型中，描述了轮胎(90)元件(99)的可能方位，‑拍摄轮胎(90)元件(99)的二维伦琴射线图像，所述二维伦琴射线图像由如下像素点(33)构成，所述像素点由从伦琴管(10)穿过元件(99)至伦琴射线探测器(15)的向量(35)来描述，‑将元件(99)的来自二维伦琴射线图像的像素点(33)分配给轮胎(90)的三维模型，其中，穿过伦琴管(10)的直线和来自带有三维模型的元件(99)的可能方位的二维伦琴射线图像的像素点(33)的向量(35)的交点作为空间中的点，分配给像素点(33)。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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