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原文传递一种后准直探测装置

专利名称：	一种后准直探测装置
摘要：	本发明涉及一种后准直探测装置，包括射线源、探测器和准直器；所述准直器包括第一准直器和第二准直器；所述第一准直器和所述第二准直器的准直孔交错以使有效准直宽度小于所述第一准直器和所述第二准直器的准直孔中的任一准直宽度。本发明的有益效果如下：通过两条准直缝错位的方式获得更小的有效准直宽度，不仅可以实现更窄的准直目的，提高本征空间分辨率，同时大大降低机械加工的难度，减少成本投入，另外还易于安装调试。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	中国原子能科学研究院
发明人：	肖丹;王国宝;曾自强;张立锋;张向阳;李建伟
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810529206.1
公开号：	CN108844972A
分类号：	G01N23/00(2006.01)I;G21C17/10(2006.01)I;G;G01;G21;G01N;G21C;G01N23;G21C17;G01N23/00;G21C17/10
申请人地址：	102413 北京市房山区新镇三强路1号院
主权项：	1.一种后准直探测装置，其特征在于：包括射线源(1)、探测器(5)和准直器；所述准直器包括第一准直器(3)和第二准直器(4)；所述第一准直器(3)和所述第二准直器(4)的准直孔交错以使有效准直宽度小于所述第一准直器(3)和所述第二准直器(4)的准直孔中的任一准直宽度。
所属类别：	发明专利