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一种基于光全散射法的颗粒测量系统
| 专利名称： | 一种基于光全散射法的颗粒测量系统 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种基于光全散射法的颗粒测量系统，包括LED光源、聚光透镜一、聚光透镜二、光圈一、光圈二、准直透镜、分束镜、旋转机构、光纤耦合头一、光纤耦合头二、气溶胶颗粒、多元光纤分布板一、多元光纤分布板二、光电倍增管及放大管、计算机。本实用新型基于光全散射法原理,通过旋转机构带动分束镜的旋转来实现双光路测量，分别测量射入气溶胶颗粒的入射光和出射光的光强信号，输入计算机中求得气溶胶颗粒系统的粒径分布。该测量系统需测量入射光和出射光信号，操作简便，同时系统中设计的旋转机构有效的减少了分束镜的数量，避免了因为光在分束镜间传输时损失而影响测量数据，测量结果更加精确。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 河海大学常州校区 |
| 发明人： | 周嵘;赵雪怡;刘演华 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201621201781.1 |
| 公开号： | CN206862832U |
| 代理机构： | 常州市科谊专利代理事务所 32225 |
| 代理人： | 孙彬 |
| 分类号： | G01N15/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/02 |
| 申请人地址： | 213022 江苏省常州市新北区晋陵北路200号 |
| 主权项： | 一种基于光全散射法的颗粒测量系统，其特征在于：所述系统包括LED光源、聚光透镜一、聚光透镜二、光圈一、光圈二、准直透镜、分束镜、旋转机构、光纤耦合头一、光纤耦合头二、气溶胶颗粒、多元光纤分布板一、多元光纤分布板二、光电倍增管及放大管、计算机；所述LED光源为系统提供不同光强的点光源，所述LED光源发射出的光线通过聚光透镜一、光圈一以及准直透镜，变为系统所需要的平行光线光源，所述平行光线光源照射至分束镜，所述分束镜通过旋转机构控制，能够将光线路线改变为上下两个方向，上下两个方向之间相差180°，通过旋转机构实现切换；光线向上的方向用于测量出射光信号，光线依次通过气溶胶颗粒、聚光透镜二、光圈二以及多元光纤分布板一，光线在气溶胶颗粒中发生散射，从气溶胶颗粒里出射的光线经过聚光透镜二和光圈二后，照射到多元光纤分布板一上，再经过光电倍增和放大管来放大信号，最终将出射光信号传输到电脑中，即为该实验的出射光信号；光线向下的方向用于测量入射光信号，光线依次通过光纤耦合头一、光纤耦合头二以及多元光纤分布板二，所述光纤耦合头一、光纤耦合头二之间通过传输光纤连接，最后经过光电倍增和放大管来放大信号，最终将入射光信号传输到电脑中，即为该实验的入射光信号。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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