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具备离子迁移率分离部的分析装置
| 专利名称： | 具备离子迁移率分离部的分析装置 |
| 摘要： | 为了使具有离子迁移率分离部的分析装置具有高的耐久性和鲁棒性而具有：离子源、具备被施加高频电压和直流电压的一对对置的电极的离子迁移率分离部以及设置在离子源和离子迁移率分离部之间且被施加直流电压的屏蔽电极，屏蔽电极在内部具有连接导入来自离子源的离子的入口和排出离子的出口的离子流路，离子流路弯曲使得从入口见不到出口。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 株式会社日立高新技术 |
| 发明人： | 佐竹宏之;西村和茂;长谷川英树;杉山益之 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201780010707.2 |
| 公开号： | CN108603860A |
| 代理机构： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 |
| 代理人： | 范胜杰;王立杰 |
| 分类号： | G01N27/62(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/62 |
| 申请人地址： | 日本东京都 |
| 主权项： | 1.一种分析装置，其特征在于，该分析装置具有：离子源；离子迁移率分离部，其具备被施加高频电压和直流电压的一对对置的电极；以及屏蔽电极，其设置在上述离子源和上述离子迁移率分离部之间且被施加直流电压，上述屏蔽电极在内部具有连接导入来自上述离子源的离子的入口和排出上述离子的出口的离子流路，上述离子流路弯曲使得从上述入口见不到上述出口。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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