专利名称: |
一种无损检测种蛋中后期死胚蛋的方法 |
摘要: |
本发明公开了一种无损检测种蛋中后期死胚蛋的方法,高光谱图像采集,图像校正;种蛋发育中期,在种蛋大头区域选择感兴趣ROI区域;种蛋发育后期在小头选取ROI区域;并用连续投影算法进行光谱波长优化,选取400‑1000nm波段的种蛋样本光谱数据;分别将特征波段和全波段作为模型输入变量,胚胎死亡时间作为模型输出变量,建立中期死胚时间预测支持向量机回归模型进行对比;利用灰度共生矩阵提取种蛋图像的特征参数;将孵化光谱曲线特征和孵化图像发育特征,作为SVC模型的输入变量,进行判断。本发明的有益效果是检测结果准确且不会造成种蛋损伤。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
南京晓庄学院 |
发明人: |
张伟;屠康;潘磊庆;张李阳;汪振炯;王海鸥;王蓉蓉 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201710843020.9 |
公开号: |
CN107643255A |
代理机构: |
南京业腾知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32321 |
代理人: |
郑婷 |
分类号: |
G01N21/27(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/27 |
申请人地址: |
211171 江苏省南京市江宁区弘景大道3601号 |
主权项: |
一种无损检测种蛋中后期死胚蛋的方法,其特征在于按照以下步骤进行:步骤1:高光谱图像采集;高光谱图像采集前需要对采集曝光时间、镜头到种蛋表面的距离、光源强度、图像分辨率和传送装置的速度进行设置;步骤2:图像校正;试验前根据样品特征,选择合适厚度的标准白色校正板,放置在光源正上方,扫描透射白板得到全白的标定图像;然后盖上镜头盖,采集全黑的标定图像;最后根据式计算出校正后的相对图像; 式中,Iλ为原始高光谱透射图像;Bλ为全黑的标定图像;Wλ为全白的标定图像;Rλ为标定后高光谱透射图像;步骤3:中、后期孵化光谱曲线特征提取;种蛋发育中期,在种蛋大头区域选择感兴趣ROI区域;种蛋发育后期在小头选取ROI区域;并用连续投影算法进行光谱波长优化,选取400‑1000nm波段的种蛋样本光谱数据;分别将特征波段和全波段作为模型输入变量,胚胎死亡时间作为模型输出变量,建立中期死胚时间预测支持向量机回归模型进行对比;步骤4:中、后期孵化图像发育特征提取;利用灰度共生矩阵提取种蛋图像的能量、对比度、相关性、逆差距和熵5个特征参数;步骤5:将孵化光谱曲线特征和孵化图像发育特征,作为SVC模型的输入变量,进行判断,模型参数优选:g=10‑2,nu=10‑0.78。 |
所属类别: |
发明专利 |