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一种利用EBSD测量钢中位错密度的方法
| 专利名称： | 一种利用EBSD测量钢中位错密度的方法 |
| 摘要： | 一种利用EBSD测量钢中位错密度的方法。该方法包括制备标准试样和若干个待测试样，将上述试样依次放入带有EBSD的扫描电镜中，扫描并记录扫描数据，处理所述扫描数据，确定标准试样的小角度界面的界面密度ρ标和待测试样的小角度界面的界面密度ρ，测定标准试样的位错密度d标，根据公式d标＝k·ρ标计算常数k，再根据公式d＝k·ρ计算待测试样的位错密度。相较于其他传统测量钢中位错密度的方法，此方法更为便捷、准确，还能直观的观测对比不同钢材间的位错密度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 钢铁研究总院;中联先进钢铁材料技术有限责任公司 |
| 发明人： | 张正延;柴锋;罗小兵;杨才福;苏航;师仲然 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810254056.8 |
| 公开号： | CN108535295A |
| 代理机构： | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 |
| 代理人： | 龚颐雯;姬长平 |
| 分类号： | G01N23/203(2006.01)I;G01N23/207(2006.01)I;G01N23/2206(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/203;G01N23/207;G01N23/2206 |
| 申请人地址： | 100081 北京市海淀区学院南路76号 |
| 主权项： | 1.一种利用EBSD快速测量钢中位错密度的方法，其特征在于：(1)试样制备：制备标准试样和若干个待测试样；(2)试样EBSD扫描：将上述试样依次放入带有EBSD的扫描电镜中扫描，并记录扫描数据；(3)数据处理：处理所述扫描数据，确定标准试样的小角度界面的界面密度ρ标和待测试样的小角度界面的界面密度ρ，测定标准试样的位错密度d标，根据公式d标＝k·ρ标计算常数k；(4)确定待测试样的位错密度：根据公式d＝k·ρ计算待测试样的位错密度。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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