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一种基于多路探头的荧光片发射光性能测试装置及方法
| 专利名称： | 一种基于多路探头的荧光片发射光性能测试装置及方法 |
| 摘要： | 本发明提供了一种荧光片发射光性能测试装置及方法，控温装置由层叠设置的控温底座和顶盖组成，顶盖沿着自身的长度方向间隔布置有多个安装槽，每一个凹槽内设置一个LED激发光源；顶盖外接恒流源并集成了电路用于驱动LED激发光源；控温底座与LED激发光源导热接触；恒流源驱动LED激发光源发出激发光；多片荧光片置于荧光片底座上，运动控制器控制多片荧光片中地一片运动至激发光的传输路径中，使得该荧光片2被激发光激发后的发射光被探头接收并传导至CCD光谱仪；CCD光谱仪4将光信号转化为电信号并传导给计算机；计算机处理来自CCD光谱仪的电信号，实现荧光片发射光光谱采集及数据分析处理。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 福建;35 |
| 申请人： | 厦门大学 |
| 发明人： | 高玉琳;唐文超;郭自泉;吕毅军;陈忠;朱丽虹;林岳;陈国龙;林苡 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810224930.3 |
| 公开号： | CN108535226A |
| 代理机构： | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 |
| 代理人： | 张松亭;张迪 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64 |
| 申请人地址： | 361000 福建省厦门市思明南路４２２号 |
| 主权项： | 1.一种荧光片发射光性能测试装置，其特征在于包括：LED激发光源、控温装置、恒流源、探头、CCD光谱仪、荧光片底座、运动控制器、计算机；所述控温装置由层叠设置的控温底座和顶盖组成，所述顶盖沿着自身的长度方向间隔布置有多个安装槽，每一个凹槽内设置一个LED激发光源；顶盖外接恒流源并集成了电路用于驱动所述LED激发光源；控温底座与LED激发光源导热接触；所述恒流源驱动LED激发光源发出激发光；多片荧光片置于所述荧光片底座上，所述运动控制器控制所述多片荧光片中地一片运动至所述激发光的传输路径中，使得该荧光片2被激发光激发后的发射光被探头接收并传导至CCD光谱仪；所述CCD光谱仪4将光信号转化为电信号并传导给计算机；计算机处理来自CCD光谱仪的电信号，实现荧光片发射光光谱采集及数据分析处理。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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