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缺陷标注方法及装置、卷料和片的制造方法及卷料和片
| 专利名称： | 缺陷标注方法及装置、卷料和片的制造方法及卷料和片 |
| 摘要： | 本发明提供适于表示缺陷的位置的缺陷标注方法及缺陷标注装置、卷料的制造方法及卷料、以及片的制造方法及片。缺陷标注方法进行被检查物的缺陷检查，并根据缺陷检查的结果而在被检查物的缺陷位置实施标注，以缺陷(D)位于在被检查物的面内的与一方向交叉的另一方向上相邻的第一印刷图案(PT1)与第二印刷图案(PT2)之间的方式在被检查物的表面印刷第一印刷图案(PT1)以及第二印刷图案(PT2)，由此表示缺陷(D)的位置。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 住友化学株式会社 |
| 发明人： | 井村圭太;越野哲史 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810169825.4 |
| 公开号： | CN108535259A |
| 代理机构： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
| 代理人： | 刘文海 |
| 分类号： | G01N21/88(2006.01)I;G01N21/89(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/88;G01N21/89 |
| 申请人地址： | 日本国东京都 |
| 主权项： | 1.一种缺陷标注方法，在被检查物的缺陷位置实施标注，该缺陷标注方法的特征在于，以缺陷位于在所述被检查物的面内的与一方向交叉的另一方向上相邻的第一印刷图案与第二印刷图案之间的方式在所述被检查物的表面印刷所述第一印刷图案以及所述第二印刷图案，由此表示所述缺陷的位置。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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