专利名称: |
一种新型超声波探头 |
摘要: |
本实用新型公开了一种新型超声波探头,包括二维晶片阵列、声阻尼块和探测通道,二维晶片阵列固定在声阻尼块的底部端面上,探测通道的一端从声阻尼块的顶部穿过并与二维晶片阵列连接,探测通道的另一端与配套设备连接;配套设备用于通过探测通道使二维晶片阵列发出检测超声波;检测超声波经焊点区域的反射形成信息超声波,并通过二维晶片阵列和探测通道传回至配套设备,配套设备对信息超声波进行分析。本实用新型的优点和有益效果在于:减少了压电晶片的数量,进而减少了与压电晶片连接的导线数量,进而降低了探测通道以及与探测通道连接的配套设备的标准要求,因此降低了开展超声波检测工作的成本。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
上海;31 |
申请人: |
艾因蒂克检测科技(上海)股份有限公司 |
发明人: |
张瑞 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201820352131.X |
公开号: |
CN208125676U |
分类号: |
G01N29/24(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N29;G01N29/24 |
申请人地址: |
201803 上海市嘉定区金沙江西路1555弄17号6层 |
主权项: |
1.一种新型超声波探头,其特征在于,包括二维晶片阵列、声阻尼块和探测通道,所述二维晶片阵列固定在所述声阻尼块的底部端面上,所述探测通道的一端从所述声阻尼块的顶部穿过并与所述二维晶片阵列连接,所述探测通道的另一端与配套设备连接;所述配套设备用于通过所述探测通道使二维晶片阵列发出检测超声波;所述检测超声波经焊点区域的反射形成信息超声波,并通过所述二维晶片阵列和探测通道传回至所述配套设备,所述配套设备对所述信息超声波进行分析。 |
所属类别: |
实用新型 |